表面拓扑学和化学分析服务
*仅由Nanovea欧洲提供
通过NANOVEA专业的表面拓扑学和化学分析服务,可以更深入地了解您的材料。我们最先进的设备和技术确保在材料表征方面每次都有准确和可靠的结果。
无论你是在半导体、制药或任何其他行业,我们的专家团队都能帮助你利用尖端的表面分析技术,如红外(IR)光谱、色谱、电子显微镜、原子力显微镜(AFM)和X-RAY衍射,了解你的材料特性。
了解您的材料的表面特征是至关重要的,这就是为什么我们提供一系列的表面拓扑学和化学分析服务,包括表面粗糙度分析、表面改性、表面能量分析,以及更多。
如果你正在寻找一个经验丰富的合作伙伴来帮助你的材料表征需求,请今天就联系我们,了解更多关于我们的表面拓扑学和化学分析服务。凭借我们在表面分析技术方面的专业知识,您可以信赖NANOVEA的准确和可靠的结果。
虹膜光谱学
获取已知材料的红外光谱
用FTIR-ATR方法对样品和标准品进行分析,无需预处理。
功能组的定义。
未知材料的红外光谱采集
用FTIR-ATR方法进行分析,无需预处理。
功能组的定义。
镜像图画法
GC-MS
定性/半定量的识别
油类和有机材料中的成分
经历了摩擦学测试小费ng。
LC-MS
油类和有机材料中成分的定性/半定量鉴定
接受摩擦学测试。
电子显微镜
TEM
守时的微观分析或
元素分布图。
FE-SEM/EDS
守时的微观分析或
元素分布图。
热重分析和热体积分析
TGA
有氮气通量或氧化性气氛。
范围温度[-90℃,500℃]。
测试的最小质量样品为10毫克。
DSC
定性/半定量鉴定
油类和有机材料中的成分
接受摩擦学测试。
原子力显微镜(AFM)
高分辨率原子力显微镜分析拓扑结构和先进的三维信息,在和亚纳米尺度上。
X射线衍射
粉末和大块样品的X射线衍射
X射线衍射数据分析
晶体成分的定量定义(里特维尔德法)
残余应力定义
NANOVEA设计和制造用于材料测试和质量控制的仪器。
我们的轮廓仪、摩擦仪和机械测试仪器遍布世界各地的著名教育和工业组织。
25年来,无数的研究人员和公司信赖我们无与伦比的咨询和材料测试服务。