USA/GLOBALNE: +1-949-461-9292
EUROPA: +39-011-3052-794
KONTAKT

USŁUGI W ZAKRESIE TOPOLOGII POWIERZCHNI I ANALIZY CHEMICZNEJ

* PROVIDED ONLY BY NANOVEA EUROPE

Uzyskaj głębsze zrozumienie swoich materiałów dzięki eksperckim usługom NANOVEA w zakresie topologii powierzchni i analizy chemicznej. Nasz najnowocześniejszy sprzęt i techniki zapewniają dokładne i wiarygodne wyniki za każdym razem, gdy chodzi o charakteryzację materiałów.

Niezależnie od tego, czy pracujesz w przemyśle półprzewodnikowym, farmaceutycznym czy jakimkolwiek innym, nasz zespół ekspertów może pomóc Ci zrozumieć właściwości Twoich materiałów przy użyciu najnowocześniejszych technik analizy powierzchni, takich jak spektroskopia w podczerwieni (IR), chromatografia, mikroskopia elektronowa, mikroskopia sił atomowych (AFM) oraz dyfrakcja rentgenowska.

Kluczowe znaczenie ma znajomość charakterystyki powierzchni materiałów, dlatego też oferujemy szereg usług z zakresu topologii powierzchni i analizy chemicznej, w tym analizę chropowatości powierzchni, modyfikację powierzchni, analizę energii powierzchniowej i wiele innych.

Jeśli szukasz doświadczonego partnera, który pomoże Ci w Twoich potrzebach związanych z charakteryzacją materiałów, skontaktuj się z nami już dziś, aby dowiedzieć się więcej o naszych usługach z zakresu topologii powierzchni i analizy chemicznej. Dzięki naszemu doświadczeniu w technikach analizy powierzchni, możesz zaufać NANOVEA w kwestii dokładnych i wiarygodnych wyników.

SPEKTROSKOPIA IR

POZYSKIWANIE WIDM IR DLA ZNANYCH MATERIAŁÓW

Analiza przeprowadzona na próbce i wzorcu metodą FTIR-ATR bez obróbki wstępnej. 
Grupy funkcyjne definicja.

POZYSKIWANIE WIDM IR DLA NIEZNANYCH MATERIAŁÓW

Analiza wykonana metodą FTIR-ATR bez obróbki wstępnej. 
Grupy funkcyjne definicja.

CHROMATOGRAFIA

GC-MS

Jakościowa/półilościowa identyfikacja
składniki w olejach i materiałach organicznych
poddane testom tribologicznymting.

LC-MS

Jakościowa/półilościowa identyfikacja składników w olejach i materiałach organicznych
poddane badaniom tribologicznym.

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA

TEM

Punktualna mikroanaliza lub
elementy rozkład mapy.

FE-SEM/EDS

Punktualna mikroanaliza lub
elementy rozkład mapy.

ANALIZA TERMOGRAWIMETRYCZNA I TERMOWOLUMETRYCZNA

TGA

Ze strumieniem azotu lub atmosferą utleniającą.
Temperatura zakresu [-90°C, 500°C].
Minimalna masa próbki do badania 10 mg.

DSC

Identyfikacja jakościowa/półilościowa
składników w olejach i materiałach organicznych
poddane badaniom tribologicznym.

MIKROSKOPIA SIŁ ATOMOWYCH (AFM)

Analiza AFM wysokiej rozdzielczości dla topologii i zaawansowanych informacji 3D w i sub-nanoskali.

DYFRAKCJA RENTGENOWSKA

DYFRAKCJA RENTGENOWSKA NA PRÓBKACH PROSZKOWYCH I MASOWYCH
ANALIZA DANYCH DYFRAKCJI RENTGENOWSKIEJ
ILOŚCIOWE OKREŚLENIE SKŁADU KRYSTALICZNEGO (METODA RIETVELD)
DEFINICJA NAPRĘŻENIA SZCZĄTKOWEGO

NANOVEA projektuje i produkuje instrumenty do badania materiałów i kontroli jakości. 

Nasze profilometry, tribometry i testery mechaniczne można znaleźć w renomowanych organizacjach edukacyjnych i przemysłowych na całym świecie.

Od ponad 25 lat naukowcy i firmy zajmujące się najbardziej wymagającymi zastosowaniami polegają na naszym niezrównanym zakresie usług doradczych i badań materiałowych.

PROFILOMETRY

Technologia Chromatic Light dla najwyższej dokładności na każdej powierzchni, każdym materiale.

TESTERY MECHANICZNE

Najwyższa dokładność i powtarzalność przy najniższym koszcie posiadania.

TRIBOMETRY

Bardzo dokładne i powtarzalne testy zużycia i tarcia.