TOPOLOGÍA DE SUPERFICIES Y SERVICIOS DE ANÁLISIS QUÍMICO
* PROPORCIONADO ÚNICAMENTE POR NANOVEA EUROPE
Obtenga una comprensión más profunda de sus materiales con los servicios expertos de topología de superficies y análisis químico de NANOVEA. Nuestros equipos y técnicas de última generación garantizan siempre resultados precisos y fiables en la caracterización de materiales.
Tanto si trabaja en el sector de los semiconductores como en el farmacéutico o en cualquier otro, nuestro equipo de expertos puede ayudarle a comprender las propiedades de sus materiales mediante las técnicas más avanzadas de análisis de superficies, como la espectroscopia infrarroja (IR), la cromatografía, la microscopia electrónica, la microscopia de fuerza atómica (AFM) y la difracción de rayos X.
Es crucial conocer las características superficiales de sus materiales, por lo que ofrecemos una serie de servicios de topología superficial y análisis químico, que incluyen análisis de rugosidad superficial, modificación de superficies, análisis de energía superficial y mucho más.
Si está buscando un socio con experiencia que le ayude con sus necesidades de caracterización de materiales, póngase en contacto con nosotros hoy mismo para obtener más información sobre nuestros servicios de topología de superficies y análisis químico. Con nuestra experiencia en técnicas de análisis de superficies, puede confiar en NANOVEA para obtener resultados precisos y fiables.
ESPECTROSCOPIA IR
ADQUISICIÓN DE ESPECTROS IR DE MATERIALES CONOCIDOS
Análisis realizado en la muestra y el patrón con el método FTIR-ATR sin pretratamiento.
Definición de grupos funcionales.
ADQUISICIÓN DE ESPECTROS IR DE MATERIALES DESCONOCIDOS
Análisis realizado con el método FTIR-ATR sin pretratamiento.
Definición de grupos funcionales.
CROMATOGRAFÍA
GC-MS
Identificación cualitativa/semicuantitativa de
componentes en aceites y materiales orgánicos
sometidos a pruebas tribológicasting.
LC-MS
Identificación cualitativa/semicuantitativa de componentes en aceites y materiales orgánicos
sometidos a pruebas tribológicas.
MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA
TEM
Microanálisis puntual o
elementos mapa distribución.
FE-SEM/EDS
Microanálisis puntual o
elementos mapa distribución.
ANÁLISIS TERMO-GRAVIMÉTRICO Y TERMO-VOLUMÉTRICO
TGA
Con flujo de nitrógeno o atmósfera oxidativa.
Rango de temperatura [-90°C, 500°C].
Masa mínima de la muestra a ensayar 10 mg.
DSC
Identificación cualitativa/semicuantitativa
de componentes en aceites y materiales orgánicos
sometidos a pruebas tribológicas.
MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA (AFM)
Análisis AFM de alta resolución para topología e información 3D avanzada a y sub-nanoescala.
DIFRACCIÓN DE RAYOS X
DIFRACCIÓN DE RAYOS X EN MUESTRAS EN POLVO Y MASIVAS
ANÁLISIS DE DATOS DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X
DEFINICIÓN CUANTITATIVA DE LA COMPOSICIÓN CRISTALINA (MÉTODO RIETVELD)
DEFINICIÓN DE TENSIÓN RESIDUAL

NANOVEA diseña y fabrica instrumentos para el ensayo de materiales y el control de calidad.
Nuestros Perfilómetros, Tribómetros y Probadores Mecánicos se encuentran en organizaciones educativas e industriales de renombre en todo el mundo.
Desde hace más de 25 años, los investigadores y las empresas que se ocupan de las aplicaciones más exigentes confían en nuestra inigualable gama de servicios de consultoría y ensayo de materiales.
PROFILÓMETROS
Tecnología de luz cromática para obtener la máxima precisión en cualquier superficie y material.
PROBADORES MECÁNICOS
La mayor precisión y repetibilidad con el menor costo de propiedad.
TRIBÓMETROS
Pruebas de fricción y desgaste altamente precisas y repetibles.