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AR Tecnologia cromática confocal
Melhor para ângulos íngremes
Sem costura de imagem
Sem costura de imagem
Rápido para grandes áreas
Sem preparação de amostras
Muito fácil de usar
Sem reorientação
Tecnologia Confocal Cromática, usada no NANOVEA profilômetrosO sistema de detecção de luz, que funciona por meio de um processo que utiliza luz branca e uma série de lentes esferocromáticas. As lentes esferocromáticas dividem a luz branca em comprimentos de onda individuais com pontos focais verticais exclusivos (distância vertical da superfície ou altura). Todos os comprimentos de onda e suas alturas correspondentes compõem a escala de medição da faixa de altura de um sensor.
O comprimento de onda com a maior intensidade será detectado pelo espectrômetro que processa a altura de onda associada ao comprimento de onda. Durante uma varredura rasterizada completa, este processo leva uma fração de segundo e produz um mapa preciso da altura da superfície de interesse.
NENHUM ALGORITMO COMPLEXO NÃO É NECESSÁRIO NIVELAMENTO
SEM COSTURA DE DADOS X-Y
Resolução Lateral vs Precisão Lateral
O tamanho do pixel da câmera ou resolução do monitor é freqüentemente definido como resolução lateral para impressionar os clientes.
Instrumentos que utilizam tecnologia baseada em pixels de câmera exigem algoritmos complexos para determinar o ponto focal do instrumento que é problemático para superfícies complexas.
A Tecnologia Confocal Cromática da NANOVEA, por outro lado, fornece precisão lateral que é determinada pela física e está diretamente relacionada ao tamanho do ponto da fonte de luz cromática do sensor óptico.
OUTROS
NANOVEA
MICROSCÓPIO CONFOCAL DE VARREDURA A LASER
VS
SENSOR ÓPTICO DE LUZ CROMÁTICA
Perigo à saúde
Exposição à refletividade da luz laser
Luz Branca Segura
Não há necessidade de desgaste de proteção
COMPRIMENTO DE ONDA DE LUZ LASER INCONSISTENTE
Inconsistências no comprimento de onda durante a varredura afetam a precisão dos resultados
ESPECTRO DE LUZ BRANCA UNIFORME E AMPLO
Mudanças no comprimento de onda são os dados que estão sendo coletados
RESOLUÇÃO DE EXIBIÇÃO ENGANOSA
A precisão lateral e em altura são fixadas pela lente objetiva tornando insignificante a 'Resolução de exibição'.
PRECISÃO LATERAL E DE ALTURA INDEPENDENTES
A precisão lateral e em altura podem ser misturadas e combinadas para atender a uma ampla gama de requisitos de escaneamento
ALGORÍTIMOS COMPLEXOS
Algoritmos de mistura alfa costuram os dados coletados camada por camada, aterrando a precisão em cálculos complexos
SEM ALGORITHMS
O comprimento de onda físico refletido da superfície é medido diretamente para um mapa de altura representativo preciso
COSTURA NECESSÁRIA
As lentes objetivas têm campos de visão fixos limitados. A costura de áreas maiores compromete a precisão da varredura
SEM ESTAGELECIMENTO
Os pontos de dados são coletados continuamente fornecendo o mesmo nível de precisão tanto para áreas pequenas quanto grandes
50x mais lento
Velocidade de aquisição de dados de até 7,9 KHz
50x mais rápido
Velocidade de aquisição de dados de até 384 KHz
Vamos escanear uma moeda
Precisão lateral
OUTROS
NANOVEA
50x OBJETIVO
VS
SENSOR DE ALTA VELOCIDADE (950 μm)
Para 50x objetivo (370 x 277 µm)
±2% de valor de medição
±2% x 370 µm
≈ 15 µm
com algoritmos de costura >> 15 µm
Tamanho da etapa:
≈ 5 µm
LIMITE ULTIMO: 0,9 µm
3x MELHOR ACURACIA LATERAL
Precisão em altura
OUTROS
NANOVEA
50x OBJETIVO
VS
SENSOR DE ALTA VELOCIDADE (950 μm)
≈ 0,2 + L/100 µm
≈ 0,2 + 950/100 µm
≈ 9,7 µm
Faixa de 950 µm
≈ 0,6 µm
LIMITE ULTIMO: 0,014 µm
16x MELHOR ALTURA DE ACURACIDADE
Área Testada
OUTROS
NANOVEA
50x OBJETIVO
VS
SENSOR DE ALTA VELOCIDADE (950 μm)
Costura Necessária
Escaneamentos # (25 x 25 mm)
25.000 µm/370 µm x 25.000 µm/277 µm
68 x 91
= 6188 varreduras
Sem costura
Precisão consistente em qualquer tamanho de medição
1 SCAN
Tempo de teste
OUTROS
NANOVEA
50x OBJETIVO
VS
SENSOR DE ALTA VELOCIDADE (950 μm)
6 segundos por varredura
+ 4 segundos de deslocamento e costura
= 10 seg/scan x 6188 varreduras
= 61880 segundos (≈ 17 horas)
Tempo de varredura (25 x 25 mm)
= 29,6 segundos
2090x mais rápido
EXPERIMENTAR O FUTURO DA PROFILOMETRIA
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