USA/GLOBALE: +1-949-461-9292
EUROPA: +39-011-3052-794
CONTATTACI

Tecnologia confocale cromatica

Profilometria - Tecnologia dei sensori confocali cromatici
Ideale per gli angoli molto inclinati
Nessun stitching dell'immagine
Veloce per grandi aree
Nessuna preparazione del campione
Molto facile da usare
Nessuna rifocalizzazione

Tecnologia confocale cromatica, utilizzata in NANOVEA profilometriIl sistema funziona attraverso un processo che utilizza la luce bianca e una serie di lenti sfero-cromatiche. Le lenti sfero-cromatiche dividono la luce bianca in singole lunghezze d'onda con punti focali verticali unici (distanza verticale dalla superficie o dall'altezza). Tutte le lunghezze d'onda e le altezze corrispondenti costituiscono la scala di misura del campo di altezza di un sensore.

La lunghezza d'onda con l'intensità più elevata viene rilevata dallo spettrometro che elabora l'altezza associata alla lunghezza d'onda. Durante una scansione raster completa, questo processo richiede una frazione di secondo e produce una mappa accurata dell'altezza della superficie di interesse.

NESSUN ALGORITMO COMPLESSO NESSUN LIVELLAMENTO RICHIESTO

NESSUNA CUCITURA DI DATI X-Y

Il problema delle altre tecniche

(Interferometria, microscopio laser, variazione della messa a fuoco)

Risoluzione laterale e precisione laterale

La dimensione dei pixel della fotocamera o la risoluzione del display sono spesso definite come risoluzione laterale per impressionare i clienti.

Gli strumenti che utilizzano la tecnologia basata sui pixel delle telecamere richiedono algoritmi complessi per determinare il punto focale dello strumento, il che è problematico per le superfici complesse.

La tecnologia confocale cromatica di NANOVEA, invece, offre una precisione laterale che è determinata dalla fisica ed è direttamente correlata alla dimensione dello spot della sorgente di luce cromatica del sensore ottico.

ALTRI

NANOVEA

MICROSCOPIO CONFOCALE A SCANSIONE LASER

VS

CHROMATIC LIGHT OPTICAL SENSOR

Pericolo per la salute

Esposizione alla riflettività della luce laser

Luce bianca sicura

No need for protective wear

LUNGHEZZA D'ONDA DELLA LUCE LASER NON COERENTE

Le incoerenze nella lunghezza d'onda durante la scansione influiscono sull'accuratezza dei risultati.

SPETTRO LUMINOSO BIANCO UNIFORME E AMPIO

Le variazioni della lunghezza d'onda sono i dati che vengono raccolti

INGANNEVOLE "RISOLUZIONE DEL DISPLAY

La precisione laterale e in altezza è fissata dall'obiettivo rendendo la "Risoluzione del display" insignificante

PRECISIONE LATERALE E IN ALTEZZA INDIPENDENTE

La precisione laterale e in altezza può essere combinata per soddisfare un'ampia gamma di requisiti di scansione.

ALGORITMI COMPLESSI

Gli algoritmi di fusione alfa ricuciono i dati raccolti strato per strato, garantendo l'accuratezza di calcoli complessi.

NESSUN ALGORITMO

La lunghezza d'onda fisica riflessa dalla superficie viene misurata direttamente per ottenere una mappa rappresentativa accurata dell'altezza.

CUCITURE NECESSARIE

Gli obiettivi hanno campi visivi fissi limitati. La cucitura di aree più ampie compromette l'accuratezza della scansione.

NESSUNA CUCITURA

I punti dati vengono raccolti in modo continuo, fornendo lo stesso livello di accuratezza sia per le aree piccole che per quelle grandi.

50 volte più lento

Velocità di acquisizione dati fino a 7,9 KHz

50 volte più veloce

Velocità di acquisizione dati fino a 384 KHz

Scansioniamo una moneta

Precisione laterale

ALTRI

NANOVEA

OBIETTIVO 50x

VS

SENSORE AD ALTA VELOCITÀ (950 μm)

Per obiettivo 50x (370 x 277 µm)

±2% del valore di misura

±2% x 370 µm

≈ 15 µm

con algoritmi di cucitura >> 15 µm

Dimensione del passo:

≈ 5 µm

LIMITE ULTIMO: 0,9 µm

3x MIGLIORE ACCURATEZZA LATERALE

Precisione dell'altezza

ALTRI

NANOVEA

OBIETTIVO 50x

VS

SENSORE AD ALTA VELOCITÀ (950 μm)

≈ 0,2 + L/100 µm

≈ 0,2 + 950/100 µm

9,7 µm

Gamma 950 µm

≈ 0,6 µm

LIMITE ULTIMO: 0,014 µm

16 volte migliore precisione in altezza

Area testata

ALTRI

NANOVEA

OBIETTIVO 50x

VS

SENSORE AD ALTA VELOCITÀ (950 μm)

Cuciture necessarie

Scansioni # (25 x 25 mm)

25 000 µm / 370 µm x 25 000 µm / 277 µm

68 x 91

= 6188 scansioni

Senza cuciture

Consistent accuracy across any measurement size

1 SCANSIONE

Tempo di prova

ALTRI

NANOVEA

OBIETTIVO 50x

VS

SENSORE AD ALTA VELOCITÀ (950 μm)

6 secondi per scansione

+ 4 secondi di spostamento e cucitura

= 10 sec/scansione x 6188 scansioni

= 61880 secondi (≈ 17 ore)

Tempo di scansione (25 x 25 mm)

= 29,6 secondi

2090x PIÙ VELOCE

SPERIMENTATE IL FUTURO DELLA PROFILOMETRIA

Portatile

Compatto

Portatile

Alta velocità

Modulare

Standard

Modulare

Grande superficie

I NOSTRI ESPERTI

SONO SEMPRE

UN CLIC A PORTATA DI MANO

Profilometro portatile ad alta velocità JR100