ABD/GLOBAL: +1-949-461-9292
AVRUPA: +39-011-3052-794
BİZE ULAŞIN

Kromatik Konfokal Teknolojisi

Profilometri - Kromatik Konfokal Sensör Teknolojisi
Dik açılar için en iyisi
Görüntü Dikişi Yok
Geniş alanlar için hızlı
Örnek Hazırlama Yok
Kullanımı çok kolay
Yeniden Odaklanma Yok

NANOVEA'da kullanılan Kromatik Konfokal Teknolojisi profilometrelerbeyaz ışık ve bir dizi sfero-kromatik lens kullanan bir süreçle çalışır. Sfero-kromatik lensler, beyaz ışığı benzersiz dikey odak noktalarına (yüzeyden dikey mesafe veya yükseklik) sahip ayrı dalga boylarına böler. Tüm dalga boyları ve bunlara karşılık gelen yükseklikler bir sensörün yükseklik aralığı ölçüm ölçeğini oluşturur.

En yüksek yoğunluğa sahip dalga boyu, dalga boyunun ilişkili yüksekliğini işleyen spektrometre tarafından algılanacaktır. Tam bir tarama sırasında bu işlem saniyenin bir kısmını alır ve ilgilenilen yüzeyin doğru bir yükseklik haritasını üretir.

KARMAŞIK ALGORITMALAR YOK SEVIYELENDIRME GEREKMIYOR

X-Y VERI DIKIŞI YOK

Diğer Tekniklerle İlgili Sorun

(İnterferometri, Lazer Mikroskop, Odak-Varyasyonu)

Yanal Çözünürlük vs Yanal Doğruluk

Kamera Piksel Boyutu veya Ekran Çözünürlüğü, müşterileri etkilemek için genellikle yanal çözünürlük olarak tanımlanır.

Kamera piksel tabanlı teknolojiyi kullanan cihazlar, karmaşık yüzeyler için sorunlu olan cihazın odak noktasını belirlemek için karmaşık algoritmalar gerektirir.

Öte yandan NANOVEA'nın Kromatik Konfokal Teknolojisi, fizik tarafından belirlenen ve doğrudan optik sensörün kromatik ışık kaynağının spot boyutuyla ilgili olan yanal doğruluk sağlar.

DİĞERLERİ

NANOVEA

LAZER TARAMALI KONFOKAL MIKROSKOP

VS

KROMATİK IŞIK OPTİK SENSÖR

Sağlık Tehlikesi

Lazer ışığı yansıtıcılığına maruz kalma

Güvenli Beyaz Işık

Koruyucu giysiye gerek yok

TUTARSIZ LAZER IŞIĞI DALGA BOYU

Tarama sırasında dalga boyundaki tutarsızlıklar sonuçların doğruluğunu etkiler

TEKDÜZE VE GENIŞ BEYAZ IŞIK SPEKTRUMU

Dalga boyundaki değişiklikler toplanan verilerdir

ALDATICI 'EKRAN ÇÖZÜNÜRLÜĞÜ'

Yanal ve yükseklik hassasiyeti objektif lens tarafından sabitlenir 'Ekran Çözünürlüğü'nü önemsiz hale getiriyor

BAĞIMSIZ YANAL VE YÜKSEKLIK HASSASIYETI

Yanal ve yükseklik hassasiyeti, çok çeşitli tarama gereksinimlerini karşılamak için karıştırılabilir ve eşleştirilebilir

KARMAŞIK ALGORITMALAR

Alfa harmanlama algoritmaları, toplanan verileri katman katman birleştirerek karmaşık hesaplamalarda doğruluğu temel alır

ALGORİTMA YOK

Doğru bir temsili yükseklik haritası için yüzeyden yansıyan fiziksel dalga boyu doğrudan ölçülür

DIKIŞ GEREKLI

Objektif mercekleri sınırlı sabit görüş alanlarına sahiptir. Büyük alanların dikilmesi taramanın doğruluğunu tehlikeye atar

DİKİŞ YOK

Veri noktaları sürekli olarak toplanır ve hem küçük hem de büyük alanlar için aynı düzeyde doğruluk sağlar

50x DAHA YAVAŞ

Veri toplama hızı 7,9 KHz'e kadar

50x DAHA HIZLI

Veri toplama hızı 384 KHz'e kadar

Bir Madeni Para Tarayalım

Yanal Doğruluk

DİĞERLERİ

NANOVEA

50x HEDEF

VS

YÜKSEK HIZLI SENSÖR (950 μm)

50x objektif için (370 x 277 µm)

Ölçüm değerinin ±2%'si

±2% x 370 µm

≈ 15 µm

dikiş algoritmaları ile >> 15 µm

Adım boyutu:

≈ 5 µm

ULTIMATE LİMİT: 0,9 µm

3 kat DAHA İYİ LATERAL DOĞRULUK

Yükseklik Doğruluğu

DİĞERLERİ

NANOVEA

50x HEDEF

VS

YÜKSEK HIZLI SENSÖR (950 μm)

≈ 0,2 + L/100 µm

≈ 0,2 + 950/100 µm

9,7 µm

950 µm aralık

≈ 0,6 µm

ULTIMATE LIMIT: 0.014 µm

16x DAHA İYİ YÜKSEKLİK DOĞRULUĞU

Test Edilen Alan

DİĞERLERİ

NANOVEA

50x HEDEF

VS

YÜKSEK HIZLI SENSÖR (950 μm)

Dikiş Gerekli

# taramalar (25 x 25 mm)

25 000 µm / 370 µm x 25 000 µm / 277 µm

68 x 91

= 6188 tarama

Dikiş Yok

Her ölçüm boyutunda tutarlı doğruluk

1 TARAMA

Test Zamanı

DİĞERLERİ

NANOVEA

50x HEDEF

VS

YÜKSEK HIZLI SENSÖR (950 μm)

Tarama başına 6 saniye

+ 4 saniye yer değiştirme ve dikiş

= 10 saniye/tarama x 6188 tarama

= 61880 saniye (≈ 17 saat)

Tarama süresi (25 x 25 mm)

= 29,6 saniye

2090x DAHA HIZLI

PROFILOMETRININ GELECEĞINI DENEYIMLEYIN

Taşınabilir

Kompakt

Taşınabilir

Yüksek Hız

Modüler

Standart

Modüler

Geniş alan

UZMANLARIMIZ

HER ZAMAN

TEK TIK UZAKTA

Taşınabilir yüksek hızlı profilometre JR100