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3次元非接触形状測定機Jr25のポータビリティとフレキシビリティ
サンプルの表面を理解し定量化することは、品質管理や研究を含む多くのアプリケーションにとって重要です。表面を研究するには、サンプルをスキャンして画像化するために表面形状計がよく使用されます。従来の形状測定装置の大きな問題は、従来とは異なるサンプルに対応できないことです。従来とは異なるサンプルの測定では、サンプルのサイズ、形状、サンプルを移動できないこと、またはその他の不便なサンプル前処理により、困難が発生する可能性があります。 Nanoveaのポータブル 3D非接触表面形状計JR シリーズは、さまざまな角度からサンプル表面をスキャンする機能とその携帯性により、これらの問題のほとんどを解決できます。
こんにちは、可能な限り最大限の割引をした見積書を送ってください。ありがとうございます。
現在、光学薄膜分析装置を使用して、製品と同時にコーティングされる犠牲シリコンウェハー上のPTFEコーティングの厚さを測定しています。実際にコーティングを施した製品で測定する方法を探しています。私たちは50nmから10μmの間のどこにでもコーティングを行いますが、測定できる厚みの範囲が狭いツールであれば、これは制限される能力ではありません。当社のコーティングは光学的に透明で、現在使用している薄膜分析装置では非常に良い結果が得られますが、基板が反射性で平らである必要があるため、当社の製品で測定する機能はありません。
塗膜の厚みを測定できる製品について、もう少し詳しく教えてください。50～150グリット（かなり粗い）の曲面アルミ基板やプリント基板などの膜厚測定に興味があります。ご教授のほどよろしくお願いいたします。
こんにちは、私たち薄型金属部品は非接触型プロフィロメーターに興味があります。
プロフィロメーターにご興味をお持ちいただきありがとうございます。私たちは、お客様のアプリケーションに協力できることを楽しみにしています。