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SERVICES DE TOPOLOGIE DE SURFACE ET D'ANALYSE CHIMIQUE

* FOURNI UNIQUEMENT PAR NANOVEA EUROPE

Obtenez une meilleure compréhension de vos matériaux grâce aux services experts de NANOVEA en matière de topologie de surface et d'analyse chimique. Nos équipements et techniques de pointe garantissent des résultats précis et fiables à chaque fois dans la caractérisation des matériaux.

Que vous soyez dans l'industrie des semi-conducteurs, de la pharmacie ou autre, notre équipe d'experts peut vous aider à comprendre les propriétés de vos matériaux en utilisant des techniques d'analyse de surface de pointe telles que la spectroscopie infrarouge (IR), la chromatographie, la microscopie électronique, la microscopie à force atomique (AFM) et la diffraction X-RAY.

Il est crucial de connaître les caractéristiques de surface de vos matériaux, c'est pourquoi nous proposons une gamme de services de topologie de surface et d'analyse chimique, notamment l'analyse de la rugosité de surface, la modification de surface, l'analyse de l'énergie de surface, et bien plus encore.

Si vous recherchez un partenaire expérimenté pour répondre à vos besoins en matière de caractérisation des matériaux, contactez-nous dès aujourd'hui pour en savoir plus sur nos services de topologie de surface et d'analyse chimique. Grâce à notre expertise des techniques d'analyse de surface, vous pouvez faire confiance à NANOVEA pour obtenir des résultats précis et fiables.

SPECTROSCOPIE IR

ACQUISITION DE SPECTRES IR DE MATÉRIAUX CONNUS

Analyse effectuée sur l'échantillon et le standard avec la méthode FTIR-ATR sans prétraitement. 
Définition des groupes fonctionnels.

ACQUISITION DE SPECTRES IR DE MATÉRIAUX INCONNUS

Analyse réalisée avec la méthode FTIR-ATR sans prétraitement. 
Définition des groupes fonctionnels.

CHROMATOGRAPHIE

GC-MS

Identification qualitative/semi-quantitative de
composants dans les huiles et les matières organiques
soumis à des tests tribologiquesting.

LC-MS

Identification qualitative/semi-quantitative des composants dans les huiles et les matières organiques
soumis à des essais tribologiques.

MICROSCOPIE ÉLECTRONIQUE

TEM

Microanalyse ponctuelle ou
distribution des cartes d'éléments.

FE-SEM/EDS

Microanalyse ponctuelle ou
distribution des cartes d'éléments.

ANALYSE THERMO-GRAVIMÉTRIQUE ET THERMO-VOLUMIQUE

TGA

Avec un flux d'azote ou une atmosphère oxydante.
Température de la gamme [-90°C, 500°C].
Masse minimale de l'échantillon à tester : 10 mg.

DSC

Identification qualitative/semi-quantitative
des composants dans les huiles et les matières organiques
soumis à des essais tribologiques.

MICROSCOPIE À FORCE ATOMIQUE (AFM)

Analyse AFM à haute résolution pour la topologie et l'information 3D avancée à l'échelle sub-nanométrique.

DIFFRACTION DES RAYONS X

DIFFRACTION DES RAYONS X SUR DES ÉCHANTILLONS EN POUDRE ET MASSIFS
ANALYSE DES DONNÉES DE DIFFRACTION DES RAYONS X
DÉFINITION QUANTITATIVE DE LA COMPOSITION CRISTALLINE (MÉTHODE RIETVELD)
DÉFINITION DE LA CONTRAINTE RÉSIDUELLE

NANOVEA conçoit et fabrique des instruments pour les essais de matériaux et le contrôle de la qualité. 

Nos profilomètres, tribomètres et testeurs mécaniques se trouvent dans des organisations éducatives et industrielles renommées dans le monde entier.

Depuis plus de 25 ans, les chercheurs et les entreprises confrontés aux applications les plus exigeantes font confiance à notre gamme inégalée de services de conseil et d'essai des matériaux.

PROFILOMETRES

Technologie lumière chromatique pour une précision maximale sur toute surface ou matériau.

TESTEURS MÉCANIQUES

La plus grande précision et répétabilité à plus faible coût de possession.

TRIBOMÈTRES

Tests d'usure et de friction précis et reproductibles.