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AR Tecnología confocal cromática
Tecnología confocal cromática, utilizada en NANOVEA. Perfilómetros, funciona mediante un proceso que utiliza luz blanca y una serie de lentes esferocromáticas. Las lentes esferocromáticas dividen la luz blanca en longitudes de onda individuales con puntos focales verticales únicos (distancia vertical desde la superficie o altura). Todas las longitudes de onda y sus alturas correspondientes conforman la escala de medición del rango de altura de un sensor.
El espectrómetro detectará la longitud de onda con mayor intensidad y procesará la altura asociada a dicha longitud de onda. Durante un escaneo completo, este proceso tarda una fracción de segundo y produce un mapa de altura preciso de la superficie de interés.
SIN ALGORITMOS COMPLEJOS
NO SE REQUIERE NIVELACIÓN
SIN UNIÓN DE DATOS X-Y
Lo mejor para ángulos pronunciados
Sin cosido de imagen
Sin cosido de imagen
Rápido para grandes superficies
Sin preparación de muestras
Muy fácil de usar
Sin reenfoque
Resolución lateral frente a precisión lateral
El tamaño de píxel de la cámara o la resolución de la pantalla se define a menudo como resolución lateral para impresionar a los clientes.
Los instrumentos que utilizan tecnología basada en píxeles de cámara requieren algoritmos complejos para determinar el punto focal del instrumento, lo que resulta problemático en superficies complejas.
Por otro lado, la tecnología confocal cromática de NANOVEA proporciona una precisión lateral determinada por la física y directamente relacionada con el tamaño del punto de la fuente de luz cromática del sensor óptico.
OTROS
NANOVEA
MICROSCOPIO CONFOCAL DE ESCANEO LÁSER
VS
SENSOR ÓPTICO DE LUZ CROMÁTICA
Peligro para la salud
Exposición a la reflectividad de la luz láser
Luz blanca segura
No es necesario usar ropa protectora.
LONGITUD DE ONDA DE LUZ LÁSER INCONSISTENTE
Las inconsistencias en la longitud de onda durante el escaneo afectan la precisión de los resultados.
ESPECTRO DE LUZ BLANCA UNIFORME Y AMPLIO
Los cambios en la longitud de onda son los datos que se recopilan.
LA ENGAÑOSA ‘RESOLUCIÓN DE PANTALLA’
La precisión lateral y de altura se fijan mediante la lente del objetivo. haciendo que la ‘resolución de pantalla’ sea insignificante
PRECISIÓN LATERAL E INDEPENDIENTE DE LA ALTURA
La precisión lateral y vertical se puede combinar para satisfacer una amplia gama de requisitos de escaneo.
ALGORITMOS COMPLEJOS
Los algoritmos de mezcla alfa unen los datos recopilados capa por capa, basando la precisión en cálculos complejos.
SIN ALGORITMOS
La longitud de onda física reflejada desde la superficie se mide directamente para obtener un mapa de altura representativo y preciso.
SE REQUIERE COSIDO
Las lentes objetivas tienen campos de visión fijos limitados. El cosido de áreas más grandes compromete la precisión del escaneo.
SIN COSTURAS
Los puntos de datos se recopilan de manera continua, proporcionando el mismo nivel de precisión tanto para áreas pequeñas como grandes.
50 veces más lento
Velocidad de adquisición de datos de hasta 7,9 KHz.
50 veces más rápido
Velocidad de adquisición de datos de hasta 384 KHz
Escaneemos una moneda
Precisión lateral
OTROS
NANOVEA
OBJETIVO 50x
VS
SENSOR DE ALTA VELOCIDAD (950 μm)
Para objetivo de 50 aumentos (370 x 277 µm)
±21 TP3T del valor medido
±2% x 370 µm
≈ 15 µm
con algoritmos de costura >> 15 µm
Tamaño del paso:
≈ 5 µm
LÍMITE MÁXIMO: 0,9 µm
3 VECES MÁS PRECISIÓN LATERAL
Precisión de la altura
OTROS
NANOVEA
OBJETIVO 50x
VS
SENSOR DE ALTA VELOCIDAD (950 μm)
≈ 0,2 + L/100 µm
≈ 0,2 + 950/100 µm
≈ 9,7 µm
Rango de 950 µm
≈ 0,6 µm
LÍMITE MÁXIMO: 0,014 µm
16 VECES MAYOR PRECISIÓN EN LA ALTURA
Área evaluada
OTROS
NANOVEA
OBJETIVO 50x
VS
SENSOR DE ALTA VELOCIDAD (950 μm)
Se requiere costura
Escaneos # (25 x 25 mm)
25 000 µm / 370 µm x 25 000 µm / 277 µm
68 x 91
= 6188 escaneos
Sin costuras
Precisión constante en cualquier tamaño de medición.
1 ESCANEO
Tiempo de prueba
OTROS
NANOVEA
OBJETIVO 50x
VS
SENSOR DE ALTA VELOCIDAD (950 μm)
6 segundos por escaneo
+ 4 segundos de desplazamiento y unión
= 10 segundos/escaneo x 6188 escaneos
= 61 880 segundos (≈ 17 horas)
Tiempo de escaneo (25 x 25 mm)
= 29,6 segundos
2090 veces más rápido
EXPERIMENTE EL FUTURO DE LA PERFILOMETRÍA
Portátil
Compacto
Portátil
Alta velocidad
Modular
Estándar
Modular
Gran superficie
