Chromatische Konfokaltechnik
Am besten für steile Winkel
Kein Image Stitching
Kein Image Stitching
Schnell für große Flächen
Keine Probenvorbereitung
Sehr einfach zu bedienen
Keine Neuausrichtung
Chromatische konfokale Technologie, verwendet in NANOVEA profilometerfunktioniert über ein Verfahren, das weißes Licht und eine Reihe von sphärochromatischen Linsen verwendet. Die sphärochromatischen Linsen teilen das weiße Licht in einzelne Wellenlängen mit einzigartigen vertikalen Brennpunkten (vertikaler Abstand von der Oberfläche oder Höhe). Alle Wellenlängen und ihre entsprechenden Höhen bilden die Höhenmessskala eines Sensors.
Die Wellenlänge mit der höchsten Intensität wird vom Spektrometer erfasst, das die zugehörige Höhe der Wellenlänge verarbeitet. Bei einer vollständigen Rasterabtastung dauert dieser Prozess in einem Bruchteil einer Sekunde und erzeugt eine genaue Höhenkarte der gewünschten Oberfläche.
KEINE KOMPLEXEN ALGORITHMEN KEINE NIVELLIERUNG ERFORDERLICH
KEIN STITCHING VON X-Y-DATEN
Seitliche Auflösung vs. seitliche Genauigkeit
Die Pixelgröße der Kamera oder die Bildschirmauflösung wird oft als seitliche Auflösung definiert, um Kunden zu beeindrucken.
Instrumente, die eine auf Kamerapixeln basierende Technologie verwenden, erfordern komplexe Algorithmen zur Bestimmung des Brennpunkts des Instruments, was bei komplexen Oberflächen problematisch ist.
Die chromatische Konfokaltechnologie von NANOVEA bietet dagegen eine laterale Genauigkeit, die durch die Physik bestimmt wird und direkt mit der Spotgröße der chromatischen Lichtquelle des optischen Sensors zusammenhängt.
SONSTIGES
NANOVEA
LASER-SCANNING-KONFOKALMIKROSKOP
VS
CHROMATISCHER LICHTOPTISCHER SENSOR
Gesundheitsgefährdung
Exposition gegenüber der Reflexion von Laserlicht
Sicheres weißes Licht
Keine Schutzkleidung erforderlich
UNGLEICHMÄSSIGE WELLENLÄNGE DES LASERLICHTS
Unstimmigkeiten bei der Wellenlänge während des Scannens beeinträchtigen die Genauigkeit der Ergebnisse
GLEICHMÄSSIGES & BREITES WEISSES LICHTSPEKTRUM
Änderungen der Wellenlänge sind die gesammelten Daten
TRÜGERISCHE "ANZEIGEAUFLÖSUNG
Seiten- und Höhengenauigkeit werden durch die Objektivlinse festgelegt wodurch die Anzeigeauflösung unbedeutend wird
UNABHÄNGIGE SEITEN- UND HÖHENGENAUIGKEIT
Seiten- und Höhengenauigkeit können kombiniert werden, um eine breite Palette von Scananforderungen zu erfüllen
KOMPLEXE ALGORITHMEN
Alphamischungsalgorithmen fügen die gesammelten Daten Schicht für Schicht zusammen, um die Genauigkeit komplexer Berechnungen zu gewährleisten.
KEINE ALGORITHMEN
Die von der Oberfläche reflektierte physikalische Wellenlänge wird direkt gemessen, um eine genaue, repräsentative Höhenkarte zu erstellen.
NÄHTE ERFORDERLICH
Objektive haben begrenzte feste Sehfelder. Das Nähen größerer Bereiche beeinträchtigt die Genauigkeit des Scans
KEINE NÄHTE
Die Datenpunkte werden kontinuierlich erfasst und bieten sowohl für kleine als auch für große Flächen den gleichen Genauigkeitsgrad
50x LANGSAMER
Datenerfassungsgeschwindigkeit bis zu 7,9 KHz
50x SCHNELLER
Datenerfassungsgeschwindigkeit bis zu 384 KHz
Scannen wir eine Münze
Seitliche Genauigkeit
SONSTIGES
NANOVEA
50x ZIEL
VS
HOCHGESCHWINDIGKEITSSENSOR (950 μm)
Für 50x-Objektiv (370 x 277 µm)
±2% vom Messwert
±2% x 370 µm
≈ 15 µm
mit Stitching-Algorithmen >> 15 µm
Schrittweite:
≈ 5 µm
OBERER GRENZWERT: 0,9 µm
3x BESSERE LATERALE GENAUIGKEIT
Höhengenauigkeit
SONSTIGES
NANOVEA
50x ZIEL
VS
HOCHGESCHWINDIGKEITSSENSOR (950 μm)
≈ 0,2 + L/100 µm
≈ 0,2 + 950/100 µm
≈ 9,7 µm
950 µm Bereich
≈ 0,6 µm
OBERER GRENZWERT: 0,014 µm
16x BESSERE HÖHENGENAUIGKEIT
Getestetes Gebiet
SONSTIGES
NANOVEA
50x ZIEL
VS
HOCHGESCHWINDIGKEITSSENSOR (950 μm)
Nähen erforderlich
#-Scans (25 x 25 mm)
25 000 µm / 370 µm x 25 000 µm / 277 µm
68 x 91
= 6188 Scans
Nicht genäht
Gleichbleibende Genauigkeit für alle Messgrößen
1 SCAN
Testzeit
SONSTIGES
NANOVEA
50x ZIEL
VS
HOCHGESCHWINDIGKEITSSENSOR (950 μm)
6 Sekunden pro Scan
+ 4 Sek. Verschieben & Nähen
= 10 Sekunden/Scan x 6188 Scans
= 61880 Sekunden (≈ 17 Stunden)
Scanzeit (25 x 25 mm)
= 29,6 Sekunden
2090x SCHNELLER