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在此应用中,Nanovea ST400 轮廓仪 被用来测量西红柿种子和莴苣种子的表面。每个种子的整个表面都被高分辨率地扫描了。各种分析将被用来描述表面的特征
包括表面粗糙度、轮廓分析和纹理方向。

使用三维轮廓测量法的种子表面地形学

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