4条评论

1. Abdul Khaliq Rasheed at 2:14 下午 | 回复

   

   你好，请发送一份报价单，并提供可能的最大折扣。谢谢。
2. Kelli Byrne at 2:55 下午 | 回复

   

   我们目前使用光学薄膜分析仪来测量我们在牺牲硅片上的PTFE涂层厚度，这些硅片与我们的产品同时被涂层。我们正在寻找一种方法来测量被涂层的实际产品上的涂层。我们的涂层在50纳米和10微米之间的任何地方，但如果工具有更小的厚度范围可以测量，这并不是一个限制性的能力。我们的涂层是透明的，我们用目前的薄膜分析仪得到了很好的结果，但是它不具备在我们的产品上进行测量的能力，因为基底需要是反射的和平整的。

   你能分享一些关于可能能够测量我们涂层厚度的产品的更多信息吗？我们对测量涂层厚度感兴趣的一些基材是具有50-150砂砾纹理（相当粗糙）的弧形铝基材和PCB。我很感谢你能提供的任何帮助。
3. 纳森 at 5:07 下午 | 回复

   

   你好，我们薄金属部件公司对非接触式轮廓仪感兴趣。请致电719.268.8300转309或发送电子邮件。
   1. 伦茨 帖子作者 at 5:27 下午 | 回复

      

      感谢你对我们的轮廓仪感兴趣。我们很高兴能与您合作，为您的应用提供帮助!