Jr25 3D非接触式轮廓仪的便携性和灵活性
了解和量化样品的表面对于包括质量控制和研究在内的许多应用至关重要。为了研究表面,轮廓仪通常用于扫描样品并对其进行成像。传统轮廓测量仪器的一个大问题是无法适应非常规样品。由于样品尺寸、几何形状、无法移动样品或其他不方便的样品制备,可能会出现测量非常规样品的困难。 Nanovea 的便携式 3D 非接触式轮廓仪JR 系列凭借其从不同角度扫描样品表面的能力及其便携性,能够解决大部分此类问题。
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你好,请发送一份报价单,并提供可能的最大折扣。谢谢。
我们目前使用光学薄膜分析仪来测量我们在牺牲硅片上的PTFE涂层厚度,这些硅片与我们的产品同时被涂层。我们正在寻找一种方法来测量被涂层的实际产品上的涂层。我们的涂层在50纳米和10微米之间的任何地方,但如果工具有更小的厚度范围可以测量,这并不是一个限制性的能力。我们的涂层是透明的,我们用目前的薄膜分析仪得到了很好的结果,但是它不具备在我们的产品上进行测量的能力,因为基底需要是反射的和平整的。
你能分享一些关于可能能够测量我们涂层厚度的产品的更多信息吗?我们对测量涂层厚度感兴趣的一些基材是具有50-150砂砾纹理(相当粗糙)的弧形铝基材和PCB。我很感谢你能提供的任何帮助。
你好,我们薄金属部件公司对非接触式轮廓仪感兴趣。请致电719.268.8300转309或发送电子邮件。
感谢你对我们的轮廓仪感兴趣。我们很高兴能与您合作,为您的应用提供帮助!