表面边界测量
使用三维轮廓测量法的表面边界测量
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表面边界测量
使用三维轮廓仪测量
编写者
克雷格-莱辛
简介
在对表面特征、图案、形状等的界面进行方位评估的研究中,快速确定整个测量剖面上的关注区域将是非常有用的。通过将一个表面分割成重要的区域,用户可以快速评估边界、峰值、凹点、面积、体积和许多其他方面,以了解它们在整个研究的表面轮廓中的功能作用。例如,像金属的晶界成像,分析的重要性是许多结构的界面和它们的整体方向。通过了解每个感兴趣的区域的缺陷和或整体区域内的异常可以被识别。尽管晶界成像通常是在超过Profilometer能力的范围内进行研究,而且只是二维图像分析,但它是一个有用的参考,说明这里将在更大范围内显示的概念以及三维表面测量的优势。
3D非接触式轮廓仪对表面分离研究的重要性
与接触式探针或干涉测量等其他技术不同, 3D 非接触式轮廓仪使用轴向色差,可以测量几乎任何表面,由于开放式分级,样品尺寸可能变化很大,并且不需要样品制备。在表面轮廓测量过程中获得纳米到宏观范围,样品反射率或吸收的影响为零,具有测量高表面角度的先进能力,并且无需软件对结果进行操作。轻松测量任何材料:透明、不透明、镜面、漫射、抛光、粗糙等。非接触式轮廓仪技术提供了理想、广泛且用户友好的功能,可在需要表面边界分析时最大限度地进行表面研究;以及 2D 和 3D 组合功能的优势。
地形图(下图左)被反射强度图(下图右)所掩盖,以明确界定晶粒的边界。所有直径在565微米以下的晶粒都通过应用过滤器被忽略了。
谷物总数。167
谷物所占的总投影面积。166.917 mm² (64.5962 %)
边界所占的预计总面积:(35.4038 %)
谷物的密度。0.646285粒/平方毫米
周长 = 9114.15 µm +/- 4570.38 µm
等效直径=1098.61 µm +/- 256.235 µm
平均直径=945.373µm +/- 248.344 µm
最小直径 = 675.898 µm +/- 246.850 µm
最大直径 = 1312.43 µm +/- 295.258 µm
结果与讨论:三维表面边界测量
通过使用获得的三维地形数据,可以分析每个晶粒的体积、高度、峰值、长宽比和一般形状信息。占用的总三维面积:2.525mm3
结论
在这个应用中,我们展示了NANOVEA 3D非接触式轮廓仪如何精确地表征聚苯乙烯泡沫塑料的表面。统计信息可以在整个感兴趣的表面或单个晶粒上获得,无论它们是峰值还是凹坑。在这个例子中,所有大于用户定义尺寸的晶粒被用来显示面积、周长、直径和高度。这里显示的特征对天然和预制表面的研究和质量控制至关重要,范围包括生物医学和微加工应用以及许多其他应用。
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