Bu uygulamada, NANOVEA ST400 3D Profilometrenin işlenmiş derinin yüzey kalitesini nasıl hassas bir şekilde karakterize edebileceğini gösterdik. Bu çalışmada, yüzey pürüzlülüğünü, çukur derinliğini, çukur aralığını ve çukur çapını ölçebilme kabiliyetine sahip olmak, iki numunenin finisajı ve kalitesi arasındaki görsel inceleme ile belirgin olmayabilecek farklılıkları ölçmemizi sağladı.

Genel olarak, ÖRNEK 1 ve ÖRNEK 2 arasındaki 3D taramaların görünümünde gözle görülür bir fark yoktu. Bununla birlikte, istatistiksel analizde iki numune arasında net bir ayrım vardır. NUMUNE 1, NUMUNE 2'ye kıyasla daha küçük çaplara, daha büyük derinliklere ve daha küçük çukur-çukur aralığına sahip daha yüksek miktarda çukur içermektedir.

Lütfen ek çalışmaların mevcut olduğunu unutmayın. Özel ilgi alanları, entegre bir AFM veya Mikroskop modülü ile daha fazla analiz edilebilir. NANOVEA 3D Profilometre hızları, yüksek hızlı denetim ihtiyaçlarını karşılamak üzere laboratuvar veya araştırma için 20 mm/s ila 1 m/s arasında değişir; özel boyutlandırma, hızlar, tarama yetenekleri, Sınıf 1 temiz oda uyumluluğu, indeksleme konveyörü veya hat içi veya çevrimiçi entegrasyon için üretilebilir.