ABD/GLOBAL: +1-949-461-9292
AVRUPA: +39-011-3052-794
tr_TR TR
tr_TR TR en_US EN es_MX ES de_DE DE fr_FR FR it_IT IT zh_CN ZH ja JA pt_BR PT ko_KR KO pl_PL PL ar AR
BİZE ULAŞIN

Aylık Arşivler: Ağustos 2021

Taşınabilir 3D Profilometre ile Organik Yüzey Topografisi

ORGANIK YÜZEY TOPOGRAFYASI

PORTATİF 3D PROFİLOMETRE KULLANIMI

Tarafından hazırlanmıştır

CRAIG LEISING

GİRİŞ

Doğa, gelişmiş yüzey yapılarının geliştirilmesi için hayati bir ilham kaynağı haline gelmiştir. Doğada bulunan yüzey yapılarının anlaşılması, kertenkelelerin ayaklarına dayanan yapışma çalışmalarına, deniz hıyarlarının dokusal değişimine dayanan direnç çalışmalarına ve yapraklara dayanan iticilik çalışmalarına yol açmıştır. Bu yüzeyler biyomedikalden giysilere ve otomotive kadar çok sayıda potansiyel uygulama alanına sahiptir. Bu yüzey atılımlarından herhangi birinin başarılı olabilmesi için, yüzey özelliklerinin taklit edilebilmesi ve yeniden üretilebilmesi amacıyla üretim tekniklerinin geliştirilmesi gerekmektedir. Tanımlama ve kontrol gerektiren de bu süreçtir.

ORGANİK YÜZEYLER İÇİN TAŞINABİLİR 3 BOYUTLU TEMASSIZ OPTİK PROFİLLEYİCİNİN ÖNEMİ

Kromatik Işık teknolojisini kullanan NANOVEA Jr25 Portable Optik Profil Oluşturucu neredeyse her türlü malzemeyi ölçme konusunda üstün kapasiteye sahiptir. Bu, doğanın geniş yüzey özellikleri yelpazesinde bulunan benzersiz ve dik açıları, yansıtıcı ve emici yüzeyleri içerir. 3D temassız ölçümler, yüzey özelliklerinin daha eksiksiz anlaşılmasını sağlamak için tam bir 3D görüntü sağlar. 3 boyutlu yetenekler olmadan, doğanın yüzeylerinin tanımlanması yalnızca 2 boyutlu bilgilere veya mikroskop görüntülemeye bağlı olacaktır; bu da incelenen yüzeyi uygun şekilde taklit etmek için yeterli bilgi sağlamaz. Diğerlerinin yanı sıra doku, biçim, boyut da dahil olmak üzere yüzey özelliklerinin tamamını anlamak, başarılı imalat için kritik öneme sahip olacaktır.

Laboratuvar kalitesinde sonuçların sahada kolayca elde edilebilmesi, yeni araştırma fırsatlarına kapı açıyor.

ÖLÇÜM HEDEFI

Bu uygulamada NANOVEA Jr25 bir yaprağın yüzeyini ölçmek için kullanılır. 3D yüzey taramasından sonra otomatik olarak hesaplanabilen sonsuz bir yüzey parametresi listesi vardır.

Burada 3D yüzeyi inceleyeceğiz ve
Aşağıdakiler de dahil olmak üzere daha fazla analiz edilecek ilgi alanları
yüzey pürüzlülüğünün, kanalların ve topografyanın ölçülmesi ve incelenmesi

NANOVEA

JR25

TEST KOŞULLARI

FURÇ DERİNLİĞİ

Ortalama oluk yoğunluğu: 16.471 cm/cm2
Ortalama oluk derinliği: 97,428 μm
Maksimum derinlik: 359.769 μm

SONUÇ

Bu uygulamada, aşağıdaki yöntemlerin nasıl kullanıldığını gösterdik NANOVEA Jr25 taşınabilir 3D Temassız Optik Profilleyici, sahadaki bir yaprak yüzeyinin hem topografyasını hem de nanometre ölçeğindeki ayrıntılarını hassas bir şekilde karakterize edebilir. Bu 3D yüzey ölçümlerinden, ilgilenilen alanlar hızlı bir şekilde tanımlanabilir ve ardından sonsuz çalışma listesiyle analiz edilebilir (Boyut, Pürüzlülük Son Doku, Şekil Form Topografya, Düzlük Çarpıklık Düzlemsellik, Hacim Alanı, Basamak Yüksekliği ve diğerleri). Daha fazla detayı analiz etmek için 2D kesit kolayca seçilebilir. Bu bilgilerle organik yüzeyler, eksiksiz bir yüzey ölçüm kaynakları seti ile geniş bir şekilde araştırılabilir. Özel ilgi alanları, masa üstü modellerde entegre AFM modülü ile daha fazla analiz edilebilirdi.

NANOVEA ayrıca saha araştırmaları için taşınabilir yüksek hızlı profilometreler ve çok çeşitli laboratuvar tabanlı sistemler sunmanın yanı sıra laboratuvar hizmetleri de sağlamaktadır.

ŞIMDI, BAŞVURUNUZ HAKKINDA KONUŞALIM

CANLI SOHBET

Kuvars Kristal Yüzey Üzerine Altın Kaplamanın Yapışma Özellikleri

Altın Kaplamanın Yapışma Özellikleri

Kuvars Kristal Alt Tabaka üzerinde

Tarafından hazırlanmıştır

DUANJIE LI, Doktora

GİRİŞ

Kuvars Kristal Mikrobalans (QCM), nanogram aralığındaki küçük kütlelerin hassas ölçümlerini yapabilen son derece hassas bir kütle sensörüdür. QCM, plakanın her iki tarafına yapıştırılmış iki elektrot ile kuvars kristalinin rezonans frekansındaki değişimleri tespit ederek yüzeydeki kütle değişimini ölçer. Aşırı küçük ağırlığı ölçme kapasitesi, kütle, adsorpsiyon, yoğunluk ve korozyon vb. değişimleri tespit etmek ve izlemek için çeşitli araştırma ve endüstriyel cihazlarda önemli bir bileşen olmasını sağlar.

QCM İÇİN KARALAMA TESTİNİN ÖNEMİ

Son derece hassas bir cihaz olan QCM, kütle değişimini 0,1 nanograma kadar ölçer. Kuvars plaka üzerindeki elektrotların herhangi bir kütle kaybı veya delaminasyonu kuvars kristali tarafından tespit edilecek ve önemli ölçüm hatalarına neden olacaktır. Sonuç olarak, elektrot kaplamasının içsel kalitesi ve kaplama/alt tabaka sisteminin arayüzey bütünlüğü, doğru ve tekrarlanabilir kütle ölçümü gerçekleştirmede önemli bir rol oynar. Mikro çizik testi, arızaların ortaya çıktığı kritik yüklerin karşılaştırılmasına dayalı olarak kaplamaların göreceli kohezyon veya yapışma özelliklerini değerlendirmek için yaygın olarak kullanılan karşılaştırmalı bir ölçümdür. QCM'lerin güvenilir kalite kontrolü için üstün bir araçtır.

ÖLÇÜM HEDEFI

Bu uygulamada NANOVEA Mekanik Test CihazıMikro Çizilme Modunda, bir QCM numunesinin kuvars substratı üzerindeki altın kaplamanın yapışma ve yapışma mukavemetini değerlendirmek için kullanılır. Kapasitemizi ortaya koymak istiyoruz NANOVEA Hassas bir numune üzerinde yüksek hassasiyet ve tekrarlanabilirlik ile mikro çizik testleri gerçekleştirmede Mekanik Test Cihazı.

NANOVEA

PB1000

nanoindenter ve çizik test cihazı Nanovea PB1000
TEST KOŞULLARI

Bu NANOVEA PB1000 Mekanik Test Cihazı, aşağıda özetlenen test parametrelerini kullanarak bir QCM numunesi üzerinde mikro çizik testlerini gerçekleştirmek için kullanılmıştır. Sonuçların tekrarlanabilirliğini sağlamak için üç çizik gerçekleştirilmiştir.

YÜK TİPİ: İlerici

İLK YÜK

0.01 N

SON YÜK

30 N

ATMOSFER: Hava 24°C

KAYMA HIZI

2 mm/dak

KAYAN MESAFE

2 mm

SONUÇLAR & TARTIŞMA

QCM örneği üzerindeki tam mikro çizik izi şu şekilde gösterilmektedir ŞEKİL 1. Farklı kritik yüklerdeki arıza davranışları ŞEKİL 2'de gösterilmiştirburada kritik yük, LC1 çizik izinde ilk yapıştırıcı hatası belirtisinin meydana geldiği yük olarak tanımlanır, LC2 tekrarlayan yapıştırıcı arızalarının gerçekleştiği yüktür ve LC3 kaplamanın alt tabakadan tamamen ayrıldığı yüktür. L'de çok az ufalanmanın gerçekleştiği gözlemlenebilirC1 11,15 N, kaplama arızasının ilk işareti. 

Mikro çizik testi sırasında normal yük artmaya devam ettikçe, tekrarlayan yapıştırıcı arızaları LC2 16,29 N. LC3 19,09 N'a ulaşıldığında, kaplama kuvars alt tabakadan tamamen ayrılır. Bu tür kritik yükler, kaplamanın kohezif ve yapışkan mukavemetini nicel olarak karşılaştırmak ve hedeflenen uygulamalar için en iyi adayı seçmek için kullanılabilir.

ŞEKİL 1: QCM örneği üzerinde tam mikro çizik izi.

ŞEKİL 2: Farklı kritik yüklerde mikro çizik izi.

ŞEKİL 3 mikro çizik testi sırasında kaplama arızalarının ilerleyişi hakkında daha fazla bilgi sağlayabilecek sürtünme katsayısı ve derinliğinin gelişimini çizer.

ŞEKİL 3: Mikro çizik testi sırasında COF ve Derinliğin evrimi.

SONUÇ

Bu çalışmada, Türkiye'de NANOVEA Mekanik Test Cihazı, bir QCM numunesi üzerinde güvenilir ve doğru mikro çizik testleri gerçekleştirir. Kontrollü ve yakından izlenen bir şekilde doğrusal olarak artan yükler uygulayarak çizik ölçümü, kullanıcıların tipik kohezif ve yapışkan kaplama arızasının meydana geldiği kritik yükü belirlemelerine olanak tanır. QCM için kaplamanın içsel kalitesini ve kaplama/alt tabaka sisteminin arayüzey bütünlüğünü niceliksel olarak değerlendirmek ve karşılaştırmak için üstün bir araç sağlar.

Nano, Mikro veya Makro modülleri NANOVEA Mekanik Test Cihazlarının tümü ISO ve ASTM uyumlu girinti, çizik ve aşınma test cihazı modlarını içerir ve tek bir sistemde mevcut olan en geniş ve en kullanıcı dostu test yelpazesini sağlar. NANOVEA'nin eşsiz ürün yelpazesi, ince veya kalın, yumuşak veya sert kaplamaların, filmlerin ve alt tabakaların sertlik, Young modülü, kırılma tokluğu, yapışma, aşınma direnci ve diğerleri dahil olmak üzere tüm mekanik özelliklerini belirlemek için ideal bir çözümdür.

Ayrıca, pürüzlülük ve çarpılma gibi diğer yüzey ölçümlerine ek olarak girinti, çizik ve aşınma izinin yüksek çözünürlüklü 3D görüntülemesi için isteğe bağlı bir 3D temassız profilleyici ve AFM modülü mevcuttur.

ŞIMDI, BAŞVURUNUZ HAKKINDA KONUŞALIM

CANLI SOHBET

Copyright © 2025 Nanovea. All Rights Reserved.