USŁUGI W ZAKRESIE TOPOLOGII POWIERZCHNI I ANALIZY CHEMICZNEJ
* PROVIDED ONLY BY NANOVEA EUROPE
Uzyskaj głębsze zrozumienie swoich materiałów dzięki eksperckim usługom NANOVEA w zakresie topologii powierzchni i analizy chemicznej. Nasz najnowocześniejszy sprzęt i techniki zapewniają dokładne i wiarygodne wyniki za każdym razem, gdy chodzi o charakteryzację materiałów.
Niezależnie od tego, czy pracujesz w przemyśle półprzewodnikowym, farmaceutycznym czy jakimkolwiek innym, nasz zespół ekspertów może pomóc Ci zrozumieć właściwości Twoich materiałów przy użyciu najnowocześniejszych technik analizy powierzchni, takich jak spektroskopia w podczerwieni (IR), chromatografia, mikroskopia elektronowa, mikroskopia sił atomowych (AFM) oraz dyfrakcja rentgenowska.
Kluczowe znaczenie ma znajomość charakterystyki powierzchni materiałów, dlatego też oferujemy szereg usług z zakresu topologii powierzchni i analizy chemicznej, w tym analizę chropowatości powierzchni, modyfikację powierzchni, analizę energii powierzchniowej i wiele innych.
Jeśli szukasz doświadczonego partnera, który pomoże Ci w Twoich potrzebach związanych z charakteryzacją materiałów, skontaktuj się z nami już dziś, aby dowiedzieć się więcej o naszych usługach z zakresu topologii powierzchni i analizy chemicznej. Dzięki naszemu doświadczeniu w technikach analizy powierzchni, możesz zaufać NANOVEA w kwestii dokładnych i wiarygodnych wyników.
SPEKTROSKOPIA IR
POZYSKIWANIE WIDM IR DLA ZNANYCH MATERIAŁÓW
Analiza przeprowadzona na próbce i wzorcu metodą FTIR-ATR bez obróbki wstępnej.
Grupy funkcyjne definicja.
POZYSKIWANIE WIDM IR DLA NIEZNANYCH MATERIAŁÓW
Analiza wykonana metodą FTIR-ATR bez obróbki wstępnej.
Grupy funkcyjne definicja.
CHROMATOGRAFIA
GC-MS
Jakościowa/półilościowa identyfikacja
składniki w olejach i materiałach organicznych
poddane testom tribologicznymting.
LC-MS
Jakościowa/półilościowa identyfikacja składników w olejach i materiałach organicznych
poddane badaniom tribologicznym.
MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM
Punktualna mikroanaliza lub
elementy rozkład mapy.
FE-SEM/EDS
Punktualna mikroanaliza lub
elementy rozkład mapy.
ANALIZA TERMOGRAWIMETRYCZNA I TERMOWOLUMETRYCZNA
TGA
Ze strumieniem azotu lub atmosferą utleniającą.
Temperatura zakresu [-90°C, 500°C].
Minimalna masa próbki do badania 10 mg.
DSC
Identyfikacja jakościowa/półilościowa
składników w olejach i materiałach organicznych
poddane badaniom tribologicznym.
MIKROSKOPIA SIŁ ATOMOWYCH (AFM)
Analiza AFM wysokiej rozdzielczości dla topologii i zaawansowanych informacji 3D w i sub-nanoskali.
DYFRAKCJA RENTGENOWSKA
DYFRAKCJA RENTGENOWSKA NA PRÓBKACH PROSZKOWYCH I MASOWYCH
ANALIZA DANYCH DYFRAKCJI RENTGENOWSKIEJ
ILOŚCIOWE OKREŚLENIE SKŁADU KRYSTALICZNEGO (METODA RIETVELD)
DEFINICJA NAPRĘŻENIA SZCZĄTKOWEGO
NANOVEA projektuje i produkuje instrumenty do badania materiałów i kontroli jakości.
Nasze profilometry, tribometry i testery mechaniczne można znaleźć w renomowanych organizacjach edukacyjnych i przemysłowych na całym świecie.
Od ponad 25 lat naukowcy i firmy zajmujące się najbardziej wymagającymi zastosowaniami polegają na naszym niezrównanym zakresie usług doradczych i badań materiałowych.
PROFILOMETRY
Technologia Chromatic Light dla najwyższej dokładności na każdej powierzchni, każdym materiale.
TESTERY MECHANICZNE
Najwyższa dokładność i powtarzalność przy najniższym koszcie posiadania.
TRIBOMETRY
Bardzo dokładne i powtarzalne testy zużycia i tarcia.