USA/GLOBALNE: +1-949-461-9292
EUROPA: +39-011-3052-794
KONTAKT

POMIAR WYSOKOŚCI KROKU POWIERZCHNIOWEGO | GŁĘBOKOŚĆ I GRUBOŚĆ

Przyrządy profilometryczne | Usługi laboratoryjne | Konfokalny chromatyczny | Uwagi do zastosowania

Chromatyczna technika konfokalna oferuje najlepszą dokładność pomiaru wysokości kroku od 60nm do 20mm. Zaletą tej techniki do dokładnego pomiaru grubości jest fakt, że na konfokalną technikę chromatyczną nie wpływają duże zmiany w odbiciu lub teksturze, co czasami można zaobserwować przy przejściu z powłoki na jej podłoże. Grubość optycznej warstwy przezroczystej może być również mierzona z podobną rozdzielczością i zakresem (> 7μm).

 

Normy:

  • ISO 5436-1

 

Analiza pomiarów standardowych:

  • Od punktu do punktu
  • Samolot do samolotu
  • Wysokość maksymalna, minimalna i średnia
  • Mapa 3D lub 2D grubości
  • Krzywa rozkładu grubości

 

Cechy oprogramowania:

  • Łatwe do zdefiniowania skanowanie linii lub obszaru
  • Przepisy
  • Rozdzielczość boczna
  • Eksportowanie surowych danych i obrazów
  • Wyświetlacz czasu rzeczywistego
  • Automatyczne raportowanie
  • Obsługa wielu języków
  • Mapowanie

 

Cechy oprogramowania analitycznego:

  • Filtrowanie
  • Leveling
  • Progowanie
  • Zooming
  • Narzędzia do wyboru obszaru i usuwania formularzy
  • Funkcje odejmowania i porównywania oraz wiele innych

 

Zaawansowana automatyka:

  • Automatyczna ostrość (optyczna i mikroskopowa), automatyczny szablon analizy
  • Makra obsługi wielu próbek
  • Łatwy wybór obszaru pod mikroskopem do profilowania lub badania AFM
  • Automatyczna podwójna częstotliwość dla powierzchni o różnej refleksyjności
  • Stopień rotacyjny
  • Rozpoznawanie wzorów
  • Komunikacja z bazą danych
  • Limity zaliczeń
  • Czujniki liniowe zapewniające do 200 razy szybsze pomiary

 

Posiadacz(e) próbek i warunki środowiskowe:

  • Niestandardowe i standardowe uchwyty do próbek
  • Stopień ogrzewania

 

Dodatkowe pomiary powierzchni:

Pomiar chropowatości powierzchni

Pomiar profilu powierzchni

Pomiar topografii powierzchni

Pomiar płaskości powierzchni

Pomiar objętości powierzchni