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ナノベアーの特許出願中の非接触型光深度センシング技術

2008 年 10 月 20 日カリフォルニア州アーバイン - ナノベアは、計装化された圧痕およびスクラッチ試験用の非接触光学式深さセンシングに関する特許を申請中です。この「革命的」な非接触技術は、マイクロ／マクロのスクラッチおよび硬度試験において、100% の正確な高さ測定を実現します。この新しい技術以前は、どのような試験でも機械的な表面接触が必要でしたが、試料の移動中は不可能で、基板や機械のコンプライアンスを考慮する必要がありました。現在では、圧子の正確な深さを非接触で観察できるため、試料の移動はもはや問題ではなく、圧子の真の深さを直接記録することができます。「マイクロフォトニクス表面検査部門のジェネラルマネージャーであるPierre Lerouxは、「私たちはこの新しい技術に非常に期待しており、その優れた結果を紹介できることを楽しみにしています。「この技術は、まさにそれを実現するものだと思います。「この高精度モジュールは、圧痕試験やスクラッチ／接着試験を用いて、薄型／厚型コーティングや基板のマイクロ／マクロ機械特性を測定するための装置です。半導体や光学技術に使用されるプラズマ処理層から、自動車部品や消費財に使用される装飾・保護コーティングに至るまで、工業用コーティングの特性評価に最適なモジュールです。ナノベアマイクロ・マクロ メカニカルテスター は、荷重と深さを独立したセンサーで計測することで、圧痕やスクラッチ試験で使用される荷重と深さの比を求めることができます。その結果、業界最速かつ最も正確な測定が可能となり、あらゆる形状や質感の材料に対応できます。また、柔らかい材料での沈み込みや粗い表面での基準移動など、従来の圧子高さ測定に伴う課題を解決することができます。