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ISPEZIONE OTTICA AUTOMATIZZATA INTRO
Nanovea Automated Optical Inspection (AOI) con ottiche all'avanguardia che utilizzano una tecnologia confocale cromatica superiore. La gamma da nano a macro è ottenuta automaticamente durante la misurazione (dimensione del profilo, rugosità, struttura della finitura, topografia della forma, deformazione della planarità, area del volume, spessore della profondità dell'altezza del gradino e altro) su una gamma più ampia di geometrie e materiali rispetto a qualsiasi altro sistema di ispezione ottica basato sulla visione o sul laser. Grazie all'uso di un'ampia gamma di penne ottiche, l'ispezione ottica è in grado di misurare con precisione una gamma infinita di applicazioni. L'ispezione ottica Nanovea non ha alcuna influenza sulla riflettività del campione, le variazioni non richiedono alcuna preparazione del campione e sono in grado di misurare angoli di superficie elevati. Misura facilmente qualsiasi materiale: trasparente, opaco, speculare, diffusivo, lucido, ruvido, ecc. A differenza di altre tecniche di misurazione ottica, è possibile misurare con precisione grandi aree superficiali senza alcuna cucitura di immagini. I profilometri Nanovea possono essere costruiti con dimensioni, velocità, capacità di scansione personalizzate, conformità alla classe 1 della camera bianca, con trasportatore di indicizzazione e per la misura in linea o online. Per saperne di più su Nanovea bench top Profilometri. *Per ulteriori specifiche sui sistemi AOI, contattare direttamente Nanovea.
ISPEZIONE OTTICA AUTOMATIZZATA
Gamma da nano a macro
ISPEZIONE
SISTEMA E SOFTWARE
Profilometro HS2000 Ispezione ottica automatizzata
Ispezione ottica automatizzata a velocità 50 volte superiori rispetto alla maggior parte dei sistemi di ispezione della sua categoria. La velocità di ispezione può raggiungere 1m/s e l'acquisizione dei dati fino a 31KHz, garantendo un'ispezione cruciale per gli ambienti di produzione e controllo qualità con maggiori vincoli di tempo. L'HS1000 è realizzato principalmente in granito per garantire una stabilità superiore e viene fornito con una workstation opzionale per creare uno strumento stand-alone completamente contenuto. L'HS1000 può anche essere dotato di un sensore di linea a 180 punti per rendere l'ispezione fino a 180 volte più veloce, con una velocità di 1 m/s e una velocità di acquisizione fino a 324.000. Opzione ideale per ambienti di automazione e controllo qualità ad alta velocità. Le versioni ottimizzate del profilometro HS1000 sono state realizzate per gli ambienti di produzione del fotovoltaico, della microelettronica e dell'asferica. È in grado di raggiungere velocità elevate, acquisendo fino a 31.000 punti al secondo e aree di scansione fino a 1m x 1m. Le misure possono spaziare dalla planarità della microelettronica, alla planarità delle celle solari, alla topografia e alle dimensioni delle asferiche. Disponibile come strumento indipendente o integrato in linea per l'ispezione del controllo qualità.
- Alta velocità - Automazione - Tecnologia di facile utilizzo - Riconoscimento dei modelli di immagine (PRVision) - Struttura in granito migliorata - Stazione di lavoro con involucro di sicurezza - Opzione nastro di indicizzazione o integrazione in linea - 31.000 punti al secondo e aree di scansione fino a 1m x 1m per il controllo qualità in linea
Software Riconoscimento di modelli 2D e analisi 3D
PRVision riconoscere automaticamente le caratteristiche da un file immagine addestrato dall'utente. La superficie viene scansionata riconoscendo automaticamente tutte le caratteristiche di interesse; quindi si misura automaticamente ogni caratteristica trovata o alcune selezionate dall'utente. PRVision può anche essere usato per riferirsi all'orientamento del campione durante una misura Macro, che correggerà automaticamente le rotazioni o gli spostamenti creati quando i campioni vengono caricati e scaricati dal loro supporto. Questa opzione riduce significativamente il tempo di impostazione quando si misura un modello di superficie o se si misurano diversi campioni. Il software Nanovea 3D è il software di acquisizione utilizzato per ulteriori analisi. Il software consente all'utente di definire le dimensioni dell'area o della linea da misurare, nonché la risoluzione laterale della misura. Il software consente inoltre tre diverse visualizzazioni della misura in tempo reale: trasversale, dall'alto verso il basso e tridimensionale. Per facilitare l'individuazione e la misurazione di piccole superfici, una funzione di ricentraggio consente all'utente di puntare e fare clic sull'immagine scansionata per ricentrare la scansione successiva su quel punto specifico; oppure utilizzando una funzione di puntamento e clic da una videocamera offset opzionale. La combinazione di queste due funzioni consente di rilevare automaticamente caratteristiche e difetti, memorizzandone la posizione, e di misurare l'area in 3D. I dati 2D e 3D possono essere utilizzati per confrontare le dimensioni, la forma, la rugosità, il volume e molto altro ancora con parametri predefiniti di accettazione/errore.
