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INSPECTION OPTIQUE AUTOMATISÉE INTRO
Nanovea Automated Optical Inspection (AOI) avec des optiques de pointe utilisant une technologie confocale chromatique supérieure. Les mesures (dimensions du profil, rugosité, texture de la finition, topographie de la forme, déformation de la planéité, surface du volume, hauteur de la marche, profondeur de l'épaisseur et autres) sont obtenues automatiquement du nanomètre à la macro sur une gamme plus large de géométries et de matériaux que n'importe quel autre système d'inspection optique basé sur la vision ou sur le laser. Grâce à l'utilisation d'une large gamme de crayons optiques, l'inspection optique peut mesurer avec précision une gamme infinie d'applications. L'inspection optique Nanovea n'est pas influencée par la réflectivité de l'échantillon, les variations ne nécessitent aucune préparation de l'échantillon et ont une capacité avancée à mesurer des angles de surface élevés. Il est facile de mesurer n'importe quel matériau : transparent, opaque, spéculaire, diffusif, poli, rugueux, etc. Contrairement à d'autres techniques de mesure optique, de grandes surfaces peuvent être mesurées avec précision sans aucun assemblage d'images. Les profilomètres Nanovea peuvent être construits avec des dimensions, des vitesses et des capacités de balayage personnalisées, en conformité avec la classe 1 des salles blanches, avec un convoyeur d'indexation et pour une utilisation en ligne ou en ligne. Pour en savoir plus sur les profilomètres de table Nanovea Profilomètres. *Pour plus d'informations sur les systèmes AOI, contactez directement Nanovea.
INSPECTION OPTIQUE AUTOMATISÉE
De l'échelle nanométrique à l'échelle macroscopique
INSPECTION
SYSTÈME ET LOGICIEL
Profilomètre HS2000 Inspection optique automatisée
Inspection optique automatisée à des vitesses 50 fois supérieures à celles de la plupart des systèmes d'inspection de sa catégorie. Les vitesses d'inspection peuvent atteindre 1 m/s et l'acquisition de données 31 kHz, ce qui permet de réaliser des inspections cruciales dans des environnements de production et de contrôle de la qualité soumis à des contraintes de temps. Le HS1000 est fabriqué principalement en granit pour offrir une stabilité supérieure et est livré avec une station de travail en boîtier en option pour créer un instrument autonome entièrement intégré. Le HS1000 peut également être équipé d'un capteur de ligne à 180 points pour accélérer l'inspection jusqu'à 180 fois, ce qui donne une vitesse de déplacement de 1 m/s et un taux d'acquisition allant jusqu'à 324 000. C'est l'option idéale pour les environnements d'automatisation à grande vitesse et de contrôle de la qualité. Des versions optimisées du profilomètre HS1000 ont été conçues pour les environnements de production photovoltaïque, microélectronique et asphérique. Capable de vitesses élevées, d'acquérir jusqu'à 31 000 points par seconde et de balayer des zones allant jusqu'à 1m x 1m. Les mesures peuvent aller de la planéité microélectronique à la planéité des cellules solaires, en passant par la topographie et les dimensions asphériques. Disponible en version autonome ou intégrée en ligne pour l'inspection du contrôle de la qualité.
- Hi-Speed - Automated - User Friendly Technology - (PRVision) Image Pattern Recognition - Enhanced Granite Structure - Safety Enclosure Workstation - Indexing Conveyor or Inline Integration Option - 31,000 points par seconde et des zones de scan jusqu'à 1m x 1m pour le contrôle qualité en ligne.
Logiciel Reconnaissance des formes en 2D et analyse en 3D
PRVision reconnaître automatiquement des caractéristiques à partir d'un fichier image formé par l'utilisateur. La surface est scannée tout en reconnaissant automatiquement toutes les caractéristiques d'intérêt, puis elle est mesurée automatiquement pour chaque caractéristique trouvée ou pour quelques-unes choisies par l'utilisateur. PRVision peut également être utilisé pour référencer l'orientation de l'échantillon au cours d'une mesure macro, qui corrigera automatiquement les rotations ou les déplacements créés lorsque les échantillons sont chargés et déchargés de leur porte-échantillon. Cette option permet de réduire considérablement le temps d'installation lorsqu'un motif de surface ou plusieurs échantillons doivent être mesurés. Le logiciel Nanovea 3D est le logiciel d'acquisition utilisé pour les analyses ultérieures. Le logiciel permet à l'utilisateur de définir la taille de la zone ou de la ligne à mesurer, ainsi que la résolution latérale de la mesure. Le logiciel permet également d'obtenir trois vues différentes de la mesure en temps réel : vue en coupe, vue de haut en bas et vue tridimensionnelle. Pour faciliter la recherche et la mesure de petites surfaces, une fonction de recentrage permet à l'utilisateur de pointer et de cliquer sur l'image numérisée afin de recentrer la prochaine numérisation sur ce point spécifique, ou en utilisant une fonction de pointage et de clic à partir d'une caméra vidéo décalée en option. La combinaison de ces deux fonctions permet de détecter automatiquement les caractéristiques et les défauts, de mémoriser leur emplacement et de mesurer cette zone en 3D. Les données 2D et 3D peuvent être utilisées pour comparer les dimensions, la forme, la rugosité, le volume et bien d'autres choses encore à des paramètres de réussite ou d'échec prédéfinis.
