PL 
EN 
ES 
DE 
FR 
IT 
ZH 
JA 
PT 
TR 
KO 
AR 
AUTOMATYCZNA INSPEKCJA OPTYCZNA INTRO
Nanovea Automated Optical Inspection (AOI) z najnowocześniejszą optyką wykorzystującą doskonałą chromatyczną technologię konfokalną. Zakres od nano do makro jest automatycznie uzyskiwany podczas pomiaru (wymiar profilu, chropowatość, tekstura wykończenia, topografia kształtu, wypaczenie płaskości, obszar objętości, głębokość kroku, grubość i inne) w szerszym zakresie geometrii i materiałów niż jakikolwiek inny wizyjny lub laserowy system kontroli optycznej. Dzięki zastosowaniu szerokiej gamy piór optycznych, inspekcja optyczna może precyzyjnie mierzyć nieskończony zakres zastosowań. Inspekcja optyczna Nanovea ma zerowy wpływ odbicia próbki, zmiany nie wymagają przygotowania próbki i mają zaawansowaną zdolność do pomiaru dużych kątów powierzchni. Z łatwością zmierzy każdy materiał: przezroczysty, nieprzezroczysty, zwierciadlany, dyfuzyjny, polerowany, chropowaty itp. W przeciwieństwie do innych optycznych technik pomiarowych, duże obszary powierzchni mogą być precyzyjnie mierzone bez obrazowania. Profilometry Nanovea mogą być budowane z niestandardowymi rozmiarami, prędkościami, możliwościami skanowania, zgodnością z klasą 1 pomieszczeń czystych, z przenośnikiem indeksującym oraz do pracy w trybie Inline lub online. Aby dowiedzieć się więcej o urządzeniach stołowych Nanovea Profilometry. *W celu uzyskania dalszych specyfikacji dotyczących systemów AOI należy skontaktować się bezpośrednio z firmą Nanovea.
AUTOMATYCZNA INSPEKCJA OPTYCZNA
Zakres od nano do makro
INSPEKCJA
SYSTEM I OPROGRAMOWANIE
Profilometr HS2000 | Zautomatyzowana inspekcja optyczna
Zautomatyzowana inspekcja optyczna z prędkością 50 razy większą niż w przypadku większości systemów inspekcyjnych tej klasy. Prędkość inspekcji może osiągnąć do 1 m/s, a akwizycja danych do 31 kHz, zapewniając kluczową inspekcję w środowiskach produkcyjnych i kontroli jakości o ograniczonym czasie. HS1000 jest wykonany głównie z granitu, aby zapewnić doskonałą stabilność i jest dostarczany z opcjonalną stacją roboczą w obudowie, aby stworzyć w pełni zamknięty samodzielny instrument. HS1000 może być również wyposażony w 180-punktowy czujnik liniowy, który przyspiesza inspekcję do 180 razy, co daje prędkość przesuwu 1 m/s i szybkość akwizycji do 324 000. Idealna opcja dla środowisk szybkiej automatyzacji i kontroli jakości. Zoptymalizowane wersje profilometru HS1000 zostały stworzone dla środowisk produkcyjnych fotowoltaiki, mikroelektroniki i asphere. Zdolny do dużych prędkości, akwizycji do 31 000 punktów na sekundę i skanowania obszarów do 1m x 1m. Pomiary mogą obejmować zakres od planarności mikroelektroniki, przez płaskość ogniw słonecznych, po topografię i wymiary asferyczne. Dostępny jako samodzielne urządzenie lub do integracji w linii produkcyjnej na potrzeby kontroli jakości.
- Wysoka prędkość - Zautomatyzowana - Przyjazna dla użytkownika technologia - (PRVision) Rozpoznawanie wzorców obrazu - Ulepszona struktura granitu - Stacja robocza w obudowie bezpieczeństwa - Przenośnik indeksujący lub opcja integracji w linii - 31 000 punktów na sekundę i skanowanie obszarów do 1m x 1m do kontroli jakości w linii
Oprogramowanie | Rozpoznawanie wzorców 2D i analiza 3D
PRVision automatycznie rozpoznaje cechy z pliku obrazu przeszkolonego przez użytkownika. Powierzchnia jest skanowana podczas automatycznego rozpoznawania wszystkich interesujących cech; następnie automatycznie mierzy każdą znalezioną cechę lub kilka wybranych przez użytkownika. PRVision można również użyć do odniesienia orientacji próbki podczas pomiaru makro, co automatycznie skoryguje obroty lub przemieszczenia powstałe podczas ładowania i rozładowywania próbek z uchwytu. Opcja ta znacznie skraca czas konfiguracji, gdy mierzony jest wzór powierzchni lub kilka próbek. Oprogramowanie Nanovea 3D jest oprogramowaniem akwizycji używanym do dalszej analizy. Oprogramowanie pozwala użytkownikowi zdefiniować rozmiar mierzonego obszaru lub linii, a także rozdzielczość boczną pomiaru. Oprogramowanie pozwala również na trzy różne widoki pomiaru w czasie rzeczywistym: przekrój poprzeczny, widok z góry na dół i widok trójwymiarowy. Aby ułatwić znalezienie i pomiar małych powierzchni, funkcja ponownego centrowania umożliwia użytkownikowi wskazanie i kliknięcie na zeskanowanym obrazie w celu ponownego wyśrodkowania następnego skanu do tego konkretnego punktu; lub za pomocą funkcji wskaż i kliknij z opcjonalnej przesuniętej kamery wideo. Połączenie tych dwóch funkcji umożliwia automatyczne wykrywanie cech i wad, zapamiętywanie ich lokalizacji, a następnie możliwość pomiaru tego obszaru w 3D. Dane 2D i 3D mogą być wykorzystane do porównania wymiarów, kształtu, chropowatości, objętości i wielu innych parametrów z wcześniej zdefiniowanymi parametrami.
