MESURE DE LA HAUTEUR DES MARCHES DE LA SURFACE | PROFONDEUR ET ÉPAISSEUR
Instruments de profilométrie | Services de laboratoire | Chromatique Confocale | Notes d'application
La technique confocale chromatique offre la meilleure précision pour mesurer les hauteurs de pas de 60nm à 20mm. L'avantage de cette technique pour mesurer précisément l'épaisseur réside dans le fait que la confocale chromatique n'est pas influencée par de grands changements de réflectivité ou de texture, comme on peut parfois le constater en passant d'un revêtement à son substrat. L'épaisseur d'une couche optique transparente peut également être mesurée avec une résolution et une portée similaires (> 7μm).
Normes :
- ISO 5436-1
Analyse des mesures standard :
- Point à point
- De plan à plan
- Hauteurs maximales, minimales et moyennes
- Carte d'épaisseur en 3D ou en 2D
- Courbe de distribution de l'épaisseur
Caractéristiques du logiciel :
- Sélection des paramètres faciles pour tests lignes ou aréas
- Recettes
- Résolution latérale
- Exportation des données brutes et des images
- Affichage en temps réel
- Rapports automatiques
- Support multilingue
- Cartographie
Caractéristiques du logiciel d'analyse :
- Filtrage
- Mise à niveau
- Seuillage
- Zooming
- Outils de sélection des zones et de l'élimination de la forme
- Fonctions de soustraction et de comparaison et bien d'autres encore
Automatisation avancée :
- Mise au point automatique (optique et microscope), modèle d'analyse automatique
- Macros pour tests de plusieurs échantillons
- Sélection facile de la zone sous le microscope pour les tests de profilométrie ou de AFM
- Double fréquence automatique pour les surfaces à réflectivité variable
- Platine Rotationnelle
- Reconnaissance des formes
- Communication des bases de données
- Critères d'acceptation/de rejet
- Capteurs linéaires pour des mesures jusqu'à 200 fois plus rapides
Porteurs d'échantillon(s) et conditions environnementales :
- Porte-échantillons personnalisés et standard
- Plaque chauffante
Mesures supplémentaires de la surface :
Mesure de la rugosité de surface
Mesure du profil de la surface
Mesure de la topographie de surface