Gewinnen Sie mit den fachkundigen Dienstleistungen von NANOVEA in den Bereichen Oberflächentopologie und chemische Analyse ein tieferes Verständnis für Ihre Materialien. Unsere hochmodernen Geräte und Techniken gewährleisten jederzeit genaue und zuverlässige Ergebnisse bei der Materialcharakterisierung.

Ganz gleich, ob Sie in der Halbleiter-, Pharma- oder einer anderen Branche tätig sind, unser Expertenteam kann Ihnen helfen, die Eigenschaften Ihrer Materialien mithilfe modernster Oberflächenanalyseverfahren wie Infrarot (IR)-Spektroskopie, Chromatographie, Elektronenmikroskopie, Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Röntgenbeugung zu verstehen.

Es ist von entscheidender Bedeutung, die Oberflächeneigenschaften Ihrer Materialien zu kennen. Deshalb bieten wir eine Reihe von Dienstleistungen im Bereich der Oberflächentopologie und der chemischen Analyse an, einschließlich der Analyse der Oberflächenrauheit, der Oberflächenmodifikation, der Oberflächenenergieanalyse und vieles mehr.

Wenn Sie einen erfahrenen Partner für Ihre Materialcharakterisierung suchen, kontaktieren Sie uns noch heute, um mehr über unsere Dienstleistungen im Bereich Oberflächentopologie und chemische Analyse zu erfahren. Mit unserer Expertise in der Oberflächenanalyse können Sie sich auf NANOVEA verlassen, wenn es um genaue und zuverlässige Ergebnisse geht.