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自动光学检查介绍
Nanovea自动光学检测(AOI)采用领先的光学技术和卓越的色度共聚焦技术。在测量过程中，从纳米到宏观范围都能自动获得（轮廓尺寸、粗糙度抛光纹理、形状形态拓扑、平整度翘曲、体积面积、阶梯高度深度厚度和其他），其几何形状和材料的范围比任何其他视觉或基于激光的光学检测系统更广。通过使用大范围的光学笔，光学检测可以精确地测量无尽的应用范围。Nanovea光学检测对样品反射率的影响为零，变化不需要样品准备，并具有测量高表面角的先进能力。可以轻松地测量任何材料：透明的、不透明的、镜面的、扩散的、抛光的、粗糙的等等。与其他光学测量技术不同，大面积的表面可以精确测量，不需要任何成像缝合。Nanovea轮廓仪可以建立自定义的尺寸，速度，扫描能力，符合1级无尘室标准，带有分度输送机，用于在线或在线。要了解更多关于Nanovea台式 轮廓仪.*关于AOI系统的进一步规格，请直接联系Nanovea。
自动光学检查
纳米级到宏观级范围
检查
系统和软件
HS2000型轮廓仪 自动光学检测
自动光学检测的速度比同级别的大多数检测系统快50倍。检测速度可以达到1米/秒，数据采集速度可以达到31KHz，为时间紧迫的生产和质量控制环境提供了关键的检测。HS1000主要由花岗岩制成，以提供卓越的稳定性，并配有一个可选的外壳工作站，以创建一个完全封闭的独立仪器。HS1000还可以配备180点线型传感器，使检测速度提高到180倍，这样就有了1米/秒的平台速度和高达324,000的采集率。是高速自动化和质量控制环境的理想选择。HS1000轮廓仪的优化版本是为光伏、微电子和非球形生产环境而设计的。能够实现高速，每秒获取31,000个点，扫描区域可达1m x 1m。测量范围从微电子的平面度，到太阳能电池的平面度，再到非球面的形貌和尺寸。可作为独立的或在线整合的质量控制检查。
- 高速 - 自动化 - 用户友好的技术 - (PRVision)图像模式识别 - 增强的花岗岩结构 - 安全外壳工作站 - 索引输送机或在线集成选项 - 每秒31,000点，扫描区域达1米×1米，用于在线质量控制
软件 二维模式识别和三维分析
愿景 从用户训练的图像文件中自动识别特征。在扫描表面的同时自动识别所有感兴趣的特征；然后自动测量发现的每一个特征或由用户选择的几个特征。 愿景 在宏观测量过程中，也可以用来参考样品的方向，这将自动纠正样品从其支架上加载和卸载时产生的旋转或位移。当一个表面图案或如果几个样品将被测量时，这个选项将大大减少设置时间。Nanovea 3D软件是用于进一步分析的采集软件。该软件允许用户定义要测量的区域或线条的大小，以及测量的横向分辨率。该软件还允许实时测量的三种不同视图：横截面、自上而下和3维视图。为了更容易找到和测量小的表面，重新定位功能允许用户在扫描的图像上点击，以便将下一次的扫描重新定位到该特定的点上；或者通过使用可选的偏移视频摄像头的点击功能。结合这两种功能，可以自动检测特征和缺陷，记住它们的位置，然后有能力对该区域进行三维测量。二维和三维数据可用于比较尺寸、形状、粗糙度、体积和更多预定义的合格/不合格参数。
