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半导体芯片、电路和系统的更复杂的电子设计和布局需要高精度的制造和卓越的质量控制。与其他技术不同，如触摸探头或干涉测量，Nanovea 3D非接触式 轮廓仪使用轴向色差法，几乎可以测量任何材料的表面。在表面轮廓测量过程中，可获得从纳米到宏观的范围，样品的反射率、吸收率和高表面角度的影响为零。这对于PCB组件（PCBA）的表面检测是非常理想的，因为它包含各种不同材料、反射率和精细特征的电子元件。此外，非接触式轮廓测量技术在不接触PCBA的情况下测量表面特征，避免了因探针的滑动而损坏脆弱的电路和电子元件的风险。高精度、高速度、非接触式和用户友好性的结合使Nanovea轮廓仪成为PCBA检测的理想工具。
