TR 
EN 
ES 
DE 
FR 
IT 
ZH 
JA 
PT 
KO 
PL 
AR 
Yüzey Sınır Ölçümü
3D Profilometri Kullanarak Yüzey Sınır Ölçümü
Daha fazla bilgi edinin
YÜZEY SINIR ÖLÇÜMÜ
3 BOYUTLU PROFILOMETRI KULLANARAK
Tarafından hazırlanmıştır
Craig Leising
GİRİŞ
Yüzey özelliklerinin, desenlerin, şekillerin vb. arayüzünün oryantasyon için değerlendirildiği çalışmalarda, ölçüm profilinin tamamı üzerinde ilgilenilen alanları hızlı bir şekilde belirlemek faydalı olacaktır. Kullanıcı, bir yüzeyi önemli alanlara bölerek, incelenen tüm yüzey profilindeki işlevsel rollerini anlamak için sınırları, tepeleri, çukurları, alanları, hacimleri ve diğerlerini hızlı bir şekilde değerlendirebilir. Örneğin, metallerin tane sınırı görüntülemesinde olduğu gibi, analizin önemi birçok yapının arayüzü ve bunların genel yönelimidir. Her bir ilgi alanının anlaşılmasıyla, genel alan içindeki kusurlar ve / veya anormallikler tanımlanabilir. Tane sınırı görüntüleme tipik olarak Profilometre kapasitesini aşan bir aralıkta çalışılmasına ve yalnızca 2D görüntü analizi olmasına rağmen, burada gösterilecek olan kavramı 3D yüzey ölçüm avantajlarıyla birlikte daha büyük ölçekte göstermek için yararlı bir referanstır.
YÜZEY AYIRMA ÇALIŞMASI İÇİN 3 BOYUTLU TEMASSIZ PROFİLOMETRENİN ÖNEMİ
Temaslı problar veya interferometri gibi diğer tekniklerin aksine, 3D Temassız ProfilometreEksenel kromatizmi kullanarak neredeyse her yüzeyi ölçebilir, açık aşamalandırma nedeniyle numune boyutları büyük ölçüde değişebilir ve numune hazırlamaya gerek yoktur. Nanodan makroya kadar aralık, yüzey profili ölçümü sırasında numune yansıtma veya absorpsiyondan sıfır etkiyle elde edilir, yüksek yüzey açılarını ölçme konusunda gelişmiş bir yeteneğe sahiptir ve sonuçların yazılımla manipülasyonu gerekmez. Herhangi bir malzemeyi kolayca ölçün: şeffaf, opak, aynasal, dağınık, cilalı, pürüzlü vb. Temassız Profilometre tekniği, yüzey sınır analizine ihtiyaç duyulduğunda yüzey çalışmalarını en üst düzeye çıkarmak için ideal, geniş ve kullanıcı dostu bir yetenek sağlar; kombine 2D ve 3D yeteneğinin avantajlarıyla birlikte.
ÖLÇÜM HEDEFI
Bu uygulamada straforun yüzey alanını ölçmek için Nanovea ST400 Profilometre kullanılmıştır. Sınırlar, NANOVEA ST400 kullanılarak eş zamanlı olarak elde edilen topografya ile birlikte yansıyan bir yoğunluk dosyası birleştirilerek oluşturulmuştur. Bu veriler daha sonra her bir strafor "tanesinin" farklı şekil ve boyut bilgilerini hesaplamak için kullanılmıştır.
NANOVEA
ST400
BULGULAR VE TARTIŞMA: 2B Yüzey Sınır Ölçümü
Tane sınırlarını net bir şekilde tanımlamak için yansıyan yoğunluk görüntüsü (sağ altta) ile maskelenmiş topografi görüntüsü (sol altta). 565µm çapın altındaki tüm taneler filtre uygulanarak göz ardı edilmiştir.
Toplam tahıl sayısı: 167
Tahıllar tarafından işgal edilen toplam projeksiyon alanı: 166,917 mm² (64,5962 %)
Sınırlar tarafından işgal edilen toplam öngörülen alan: (35.4038 %)
Tane yoğunluğu: 0,646285 tane / mm2
Çevre = 9114,15 µm +/- 4570,38 µm
Eşdeğer çap = 1098,61 µm +/- 256,235 µm
Ortalama çap = 945.373 µm +/- 248.344 µm
Min çap = 675.898 µm +/- 246.850 µm
Maksimum çap = 1312,43 µm +/- 295,258 µm
BULGULAR VE TARTIŞMA: 3D Yüzey Sınır Ölçümü
Elde edilen 3D topografi verileri kullanılarak her bir tanenin hacmi, yüksekliği, tepe noktası, en-boy oranı ve genel şekil bilgileri analiz edilebilmektedir. Kaplanan toplam 3D alan: 2.525mm3
SONUÇ
Bu uygulamada, NANOVEA 3D Temassız Profilometrenin strafor yüzeyini nasıl hassas bir şekilde karakterize edebileceğini gösterdik. İstatistiksel bilgiler, ilgilenilen yüzeyin tamamında veya ister tepe ister çukur olsun, tek tek taneler üzerinde elde edilebilir. Bu örnekte, kullanıcı tarafından tanımlanan boyuttan daha büyük tüm taneler alan, çevre, çap ve yüksekliği göstermek için kullanılmıştır. Burada gösterilen özellikler, biyo medikalden mikro işleme uygulamalarına ve diğer birçok uygulamaya kadar doğal ve önceden imal edilmiş yüzeylerin araştırılması ve kalite kontrolü için kritik öneme sahip olabilir.
