TR 
EN 
ES 
DE 
FR 
IT 
ZH 
JA 
PT 
KO 
PL 
AR Kategori Basın Bülteni
Görüntü Örüntü Tanıma ile Çığır Açan Nanoindentasyon Testi
Irvine CA, 1 Nisan 2009 - Nanovea bugün, Nanovea'da çığır açan bir gelişmeyi duyurdu Nanoindentasyon kalite kontrol uygulamaları için gelişmiş görüntü örüntü tanıma yeteneklerini en gelişmiş nano-indenter ile birleştirerek test ediyor. Nanovea şimdi, PRVision, yapay görme kamerası seçeneğini, çok az veya hiç kullanıcı etkileşimi olmadan hassas bir şekilde seçilen özelliklerin otomatik olarak tanınmasını sağlayan Nanoindentasyon testiyle birleştirdi. Nanovea PRVision'ın kullanıcı dostu yazılımı, desenli numuneler veya özel olarak seçilen ilgi alanları üzerinde sertlik ve elastik modülün otomatik olarak test edilmesini sağlar. Sertlik ve elastik modül dahil olmak üzere nanoindentasyon özellikleri daha sonra otomatik olarak ölçülebilir ve kaydedilebilir. Nanoindentasyon Testi ile ilişkili "yarı tahribatsız" düşük yükler, bu tekniği sertlik ve elastik modülün çok önemli olduğu ortamların kalite kontrolünü izlemek için ideal bir çığır açan araç haline getirmektedir: Mikro Elektronik, Güneş, İlaç ve diğerleri. "Nanoindentasyon şimdiye kadar ilkel haritalama seçenekleri kullanılarak gerçekleştiriliyordu. PRVision seçeneğimiz Nanoindentasyon testlerini hızlandıracak ve sertlik ve elastik modülün en iyi kontrol parametreleri olduğu geniş ölçekli otomatik üretim kalite kontrol uygulamalarına kapı açacak." Nanovea CEO/Başkanı Pierre Leroux şunları söyledi.
En İyi Yarı İletken Üreticisi Birçok Firma Arasından Nanovea Profilometreyi Seçti
Irvine CA, 5 Mart 2009 - Nanovea bugün üst düzey bir yarı iletken üreticisine ilk HS1000 Profilometresini göndereceğini duyurdu. HS1000 teslimatı Nanovea'nın etkileyici Optik Profilometre geçmişine bir yenisini daha ekliyor ve müşterilere yüksek verim talepleri için daha gelişmiş bir ölçüm hızı seçeneği sunuyor. HS1000 Profilometre, ölçüm hızı, otomasyon ve nanometre çözünürlüğünün eşsiz bir kombinasyonu ile donatılmıştır. Nanovea HS1000 Profilometre'ye kadar, tam otomasyon ve beyaz ışık eksenel kromatizma tekniğinin benzersiz avantajları, tek bir yüksek tarama hızlı cihazda nadiren bulunan özelliklerdi; Müşterinin talep ettiği ve yalnızca Nanovea'nın sağlayabileceği bir özellik. Geleneksel yüksek hızlı cihazlar genellikle hız veya çözünürlük gibi özelliklerden birini diğerine feda ediyordu ve bu da kullanıcıların genel ölçüm kapasitesini sınırlıyordu. HS1000 Profilometre aşama hızı 1 m/s'ye ulaşarak kendi sınıfındaki çoğu optik profilleyiciden 50 kat daha hızlıdır. HS1000 Profilometre, 31KHz beyaz ışık eksenel kromatizma sensörü ve 400mm x 600mm XY ölçüm alanı ile donatılmıştır, bu da maksimum aşama hızında her 32µm'de 1 nokta ölçebilir ve 400mm'nin tamamını 1 saniyeden daha kısa sürede geçebilir (orantılı olarak daha yavaş aşama hızları ile daha yüksek çözünürlük elde edilebilir). Buna ek olarak, HS1000 Profilometre, kullanıcı etkileşimi çok az veya hiç olmadan hassas bir şekilde seçilen yüzey özelliklerinde otomatik tanıma sağlayan bir makine görüş kamerası seçeneğine sahiptir. Kullanıcı dostu yazılım ve isteğe bağlı yapay görme kamerası, ilgilenilen tüm özellikleri tanımak için yüzeyin otomatik olarak taranmasını sağlar. Bu özellikler daha sonra otomatik olarak ölçülebilir veya kullanıcı ölçülecek özellikleri bir listeden seçebilir. Üstün genel özelliklerin birleşimi HS1000'i Profilometre Yarı İletken, Güneş ve İlaç endüstrilerinde bulunan yüksek verim talepleri için tartışmasız bir şekilde tercih edilen cihazdır. "Bu müşterinin tercihini kazanmanın önemini söylemeye gerek yok. Ekibimizin böylesine önemli bir fırsatı yerine getirme becerisinden gurur duyuyorum," diyor Nanovea Ürün Müdürü Craig Leising.
Nanovea Profilometre "Sınıf 1" Temiz Oda Onayı Aldı
Irvine, CA, 22 Ocak 2009 - Nanovea Inc. bugün Profilometresinin önde gelen bir mikro-elektronik üreticisinin Sınıf 1 Temiz Odasına başarıyla kurulduğunu duyurdu. Sınıf 1 Temiz Oda izni, cihazın geliştirilmesinde kullanılan tüm malzemeler için sıkı uyumluluğu ve özel talebi ile bilinir. Nanovea'nın Profilometrelerinin gelişmiş 3D temassız profilleme yetenekleri artık en katı mikroelektronik temiz oda gereksinimleri için bir seçenek olacak. Nanovea mühendisleri, "temiz" motorlu lineer aşamaların kullanımı ve uygun malzeme seçimi ile katı sınıf 1 standartlarıyla uyumlu olacak bir sistemi özel olarak tasarladı. Sınıf 1 Temiz Odalar sıkı bir şekilde kontrol edilen bir kontaminasyon seviyesine sahiptir ve her türden çok az partiküle izin verir. Test sırasında havaya çok az partikül yayılması için X-Y aşamalarının tasarımında malzeme seçimi çok önemliydi. Sistem ayrıca yüksek derecede düzlük, doğruluk ve kullanıcının birden fazla alanı ölçmesine ve bunları birleştirmesine olanak tanıyan bir otomasyon seviyesi ile tasarlanmıştır. Bu, kullanıcının çok az kullanıcı etkileşimi ile göreceli düzlüğü karşılaştırmak için büyük, düzlemsel bir yüzey oluşturmasına olanak tanıyacaktır. Özel profilleyicinin ölçülebilir alanı, 2 nm'ye kadar dikey çözünürlükle 30 cm x 30 cm kadar büyük olabilir. Büyük, ağır ve hatta hareket ettirilemeyen parçaları taramak için bir tasarım da mevcuttur. Bu, Nanovea mühendislerinin özelleştirdiği projelere sadece bir bakış. Ayrıca, verimliliği artırmak için 30.000 nokta/saniyenin üzerinde hızlara sahip özel yapım yüksek hızlı Profilometre ve görüntü tanıma özellikli makine görüşü de sağladılar. Ek olarak, Profilometre nanometre çözünürlükle malzemenin kalınlığını ölçerken hem üst hem de alt yüzeylerden yüzey ölçümleri almak için özel tarama özellikleriyle inşa edilmiştir. "Temiz oda tasarımının eklenmesi Nanovea'nın katı ortamlarla daha yakın çalışmasını sağlayacak ve bir kez daha yaratıcılığa olan bağlılığımızı gösterecek." Nanovea, Inc. Ürün Müdürü Craig Leising şunları söyledi
Profilometre Yeni Bir Çığır Açıyor
Irvine CA, 02 Aralık 2008 - Nanovea bugün temassız profilometre serisinin artık 180 kat daha hızlı ölçüm yapabilen bir sistem içereceğini duyurdu. Bu yeni gelişme ile Nanovea'nın Profilometresi artık daha fazla zaman kısıtlaması olan üretim ve kalite kontrol ortamları için uygun hızlara ulaşma kapasitesine sahip olacak. Profilometre Teknolojisindeki bu yeni gelişme, bu özel ortamlarda kullanım için bir atılımdır. Bu yeni gelişmeden önce bu profilleme tekniği, ölçülen numune optiklerin altında ileri geri hareket ederek 3D haritalama oluştururken tek veri noktaları elde eden noktadan noktaya bir ölçüm gerektiriyordu. Bu yeni teknoloji ile aynı anda 180 ölçülebilir nokta elde edilecek ve bu da yüzeyin 3D haritasını oluşturma süresini önemli ölçüde azaltacaktır. "Bu yeni kabiliyet beni heyecanlandırıyor; bu bize yüksek verim gerektiren yeni pazarlarla çalışma olanağı sağlayacak." Craig Leising, Nanovea Ürün Müdürü. Yeni Profilometre Sistem 1 x 180 ölçüm noktası dizisi kullanır ve saniyede 324.000 noktaya kadar genel tarama hızı oluşturmak için saniyede 1800 satıra kadar tarama yapabilir. Sistem geniş alanları saniyeler içinde yüksek çözünürlükle ölçebilecek ve yüksek hızlı denetim için görüntü tanıma yazılımıyla donatılabilecektir. Seçenekler arasında 180 nokta 230 satır ölçebilen bir alan tarama işlevi oluşturmak için bir tarama aynası da yer alacaktır. Özel hat içi sistem de mevcut olacaktır.
Nanovea'nın Patent Bekleyen Temassız Optik Derinlik Algılama Tekniği
Irvine CA, 20 Ekim 2008 - Nanovea, Aletli Girinti ve Çizik Testi için Temassız Optik Derinlik Algılama konusunda Patent Bekliyor. "Devrim niteliğindeki" temassız teknik, mikro/makro çizik ve sertlik testleri sırasında 100% doğru yükseklik ölçümleri sağlar. Bu yeni gelişmeden önce, herhangi bir test, alt tabaka ve makine uyumluluğunu hesaba katmak için numune hareketi sırasında imkansız olan mekanik yüzey teması gerektiriyordu. Artık dokunmadan girintinin kesin derinliğini gözlemleme yeteneği sayesinde, numune hareketi artık bir sorun olmaktan çıkıyor ve girintinin gerçek derinliği doğrudan kaydedilebiliyor. Micro Photonics Yüzey Test Bölümü Genel Müdürü Pierre Leroux, "Yeni tekniğimiz konusunda çok heyecanlıyız ve üstün sonuçlarını sergilemek için sabırsızlanıyoruz" dedi. "Amaçlandıkları çözümler kadar ilerici cihazlar sunmak için sürekli olarak yeni yollar arıyoruz; bu tekniğin de tam olarak bunu yaptığını düşünüyorum. "Yüksek hassasiyetli modüller, ince/kalın kaplamaların ve alt tabakaların mikro/makro mekanik özelliklerinin enstrümanlı girinti ve çizik/yapışma testleri kullanılarak belirlenmesine yöneliktir. Yarı iletken ve optik teknolojisinde kullanılan plazma ile işlenmiş katmanlardan, otomobil parçaları ve tüketim malları için kullanılan dekoratif ve koruyucu kaplamalara kadar endüstriyel kaplamaların karakterizasyonu için idealdir. Nanovea Mikro/Makro Mekanik Test Cihazları enstrümanlı girinti ve çizik testlerinde kullanılan derinlik-yük eğrilerini elde etmek için bağımsız kuvvet ve derinlik sensörleri kullanır. Sonuç, sektördeki en hızlı ve en doğru ölçüm tekniğidir ve her türlü malzeme şekli ve dokusu üzerinde uygulanabilir ve yumuşak malzemelerde batma ve pürüzlü yüzeylerde referans hareketi gibi indenter yükseklik ölçümleri için eski yöntemlerle ilişkili zorlukları çözer.
Malzeme Test Cihazlarının Kullanıldığı Formula Drift Yarışları
Irvine, California - 2 Ağustos 2007 - Micro Photonics, bugün yaptığı açıklamada şirketin Formula Drift Profesyonel Yarış Serisi için "Resmi Malzeme Test Ekipmanı Tedarikçisi" seçildiğini duyurdu. Sponsorluk, malzeme testi ve analizi için önde gelen bir enstrümantasyon sağlayıcısı olan Micro Photonics ile Kuzey Amerika'daki tek profesyonel drift yarış serisi olan Formula Drift Holdings, LLC'yi bir araya getiriyor. Anlaşma kapsamında Micro Photonics, Formula Drift'e enstrümantasyon sağlamayı kabul ediyor ve karşılığında Formula Drift, Micro Photonics'e eşlik eden tüm sponsorluk haklarını ve ayrıcalıklarını veriyor. "Micro Photonics, Formula Drift Profesyonel Yarış Serisi ile harika bir ilişki kurmayı dört gözle bekliyor." Micro Photonics Yüzey Test Bölümü Genel Müdürü Pierre Leroux şunları söyledi. "Çok çeşitli cihazlar sunduğumuz için, sürücülerin ekipman doğrulama ve kalite kontrolü için ihtiyaç duydukları her şeyi sağlayabiliriz. Ayrıca, Drift Yarışlarına dahil olmak heyecan verici, ilgi muazzam." Drift yarışı, sürücülerin araçlarını belirli bir pistteki bir dizi virajda güç kaydırmalarıyla geliştirerek rakiplerine üstün manevra yapmalarını gerektiren ve aracın lastik çekişini sınırlara kadar zorlayan son derece yetenekli bir motor sporudur. Formula Drift Profesyonel Yarış Serisi Baş Komiseri Randy Hembrey, "Gezegendeki her drift yarışçısının bir lastik durometresine ihtiyacı var!" dedi. Elde taşınabilen cihazlar, yarış performansı açısından kritik önem taşıyan lastik sertliğini doğrulamak için yarışlar sırasında kullanılacak. Cihazlara ek olarak, sürücüler ve personel Micro Photonics'in makine mühendisliği deneyiminden faydalanacak. Bu ittifak aynı zamanda diğer Formula Drift Sponsor kuruluşlarıyla ilişki kurma fırsatı da sunuyor. Micro Photonics, Formula Drift için malzeme testleri cihazları ve laboratuvar testleri konusunda on beş yılı aşkın süredir hizmet vermektedir. Şirket şu alanlarda uzmanlaşmıştır: Nano ve Mikro Mekanik Testler, X-Ray Mikro Tomografi, X-Ray Difraksiyon, 3D Temassız Profilometre, İnce Film Analizi, Biyolojik Görüntüleme Cihazları ve NSOM, SPM ve AFM sistemleri.
Micro Photonics'in Yeni Multipen Tareti Tek Bir Montajda Dokuz Sensör Seçeneği Sunuyor
Irvine CA, 7 Temmuz 2006 - Micro Photonics Inc. bugün, kromatik konfokal ölçümlerde daha fazla esneklik sunan yeni çoklu optik kalem taretini tanıttı. Çoklu optik kalem taretinin Profilometreye dahil edilmesi, kullanıcıların yeni kalem tertibatlarını çıkarmak veya eklemek için zaman harcamadan optik kalemleri hızlı ve kolay bir şekilde değiştirebilmelerini sağlar. Üç benzersiz büyüteç ve üç farklı kromatik lensten oluşan çoklu optik kalem tareti, tek bir düzenekte dokuz adede kadar optik sensör seçeneği sunar. Taret, yeni veya mevcut herhangi bir Nanovea Profilometer 3D Optik Temassız Optik Profilleyiciye kolayca entegre edilebilir. Kalem kombinasyonları Micro Photonics'in sunduğu otuzdan fazla farklı sensör seçeneğinden oluşur. Seçenekler arasında 3,3 mm ila 29 mm odak uzunlukları arasında değişen beş büyüteç ve 130 µm ila 27 mm alan derinliği olan altı farklı kromatik lens bulunmaktadır. Kalem kombinasyonları maksimum 5 nm eksenel çözünürlük, 20 nm'ye kadar hassasiyet ve difüzif nesneler için maksimum 87º eğim elde edebilir. Bu Nanovea Micromeasure seçeneği yalnızca Micro Photonics Inc. tarafından sunulmaktadır. Micro Photonics, 1992 yılından bu yana malzeme teknolojisi cihazları ve laboratuvar testleri alanında lider bir tedarikçidir. Şirket şu alanlarda uzmanlaşmıştır: Nano ve Mikro Mekanik Testler, X-Ray Mikro Tomografi, Elipsometre, X-Ray Kırınımı, 3D Temassız Profilometreİnce Film Analizi, Biyolojik Görüntüleme Cihazları ve NSOM, SPM ve AFM sistemleri.
Micro Photonics yeni düşük fiyatlı modüler kromatik konfokal optik kalemlerini tanıttı.
Irvine CA, 24 Mart 2006 - Micro Photonics Inc. bugün en yeni ürün serisini tanıttı kromatik konfokal profilometri, mikrotopografi, pürüzlülük, otomatik odaklama vibrometresi, hat içi denetim kalite kontrolü ve kalınlık ölçümleri için optik kalemler. Yeni modüler tasarım, belirli alan derinliği, spot boyutu, çalışma mesafesi, nesne eğimi ve fotometrik verimlilik için 30'a kadar farklı optik kalem konfigürasyonuna izin verir. Kullanıcılar, 3,3 mm ila 29 mm odak uzunlukları arasında değişen beş büyüteç ve 130µm ila 27 mm alan derinliğine sahip altı farklı kromatik lens arasından seçim yapabilirler. Kalemler maksimum 5nm eksenel çözünürlük, 20nm'ye kadar hassasiyet ve difüzif nesneler için maksimum 87º eğim elde edebilir. Beyaz ışık kromatik sapmasına dayanan kalemler üstün yanal çözünürlüğe (1,1µm) ve dikey çözünürlüğe (5nm) sahiptir; bu da onları bazen vibrometri, hat içi denetim ve kalite kontrol uygulamalarında olduğu gibi yüksek çözünürlüklü ölçümlerin kritik olduğu uygulamalar için lazer üçgenleme sensörlerinden daha iyi bir seçim haline getirir. Tekstil, polimer, siyah veya koyu mavi malzemeler, yüksek en-boy oranlı yüzeyler ve düşük yansıtıcılığa sahip malzemeler gibi zorlu malzemeler için beyaz ışık renk sapması genellikle tek uygun tekniktir. Micro Photonics, yeni rekabetçi fiyatlandırmanın daha önce beyaz ışık renk sapmasını çok pahalı bulan müşterileri çekeceğine inanıyor. "Müşteriler bu tekniği ve OEM uygulamaları için faydalarını biliyorlardı, ancak fiyat nedeniyle daha ucuz lazer sensörleri lehine geçiştirildi. Yeni fiyatlar ortalama 40% daha düşük, bu da bir fark yaratacak." diyor Yüzey Test Bölümü Genel Müdürü Pierre Leroux. 30,000Hz'e kadar olan alım hızı, belirli vibrometri, hat içi ve hat dışı kalite kontrol gereksinimlerini karşılar. Sistem bağımsız bir ünite olarak kullanılabilir veya çeşitli yazılım paketleri kullanılarak bir bilgisayara bağlanabilir. Eksiksiz 3D yüzey görüntüleme için Micromeasure Profiler ve Micromeasure Dual Scanner gibi entegre çözümler de mevcuttur. Bu teknoloji Micro Photonics Inc. firmasından temin edilebilir. Micro Photonics, 1992 yılından bu yana malzeme teknolojisi cihazları ve laboratuvar testleri alanında lider bir tedarikçidir. Şirket şu alanlarda uzmanlaşmıştır: Nano ve Mikro Mekanik Testler, X-Ray Mikro Tomografi, Elipsometre, X-Ray Kırınımı, 3D Temassız Profilometri, İnce Film Analizi, Biyolojik Görüntüleme Cihazları ve NSOM, SPM ve AFM sistemleri.
Micro Photonics Çift Taramalı Profilometre ve Tarama Cihazını Tanıttı
Irvine CA, 25 Ocak 2005 - Micro Photonics Inc. bugün yüzey malzemeleri test cihazları serisine en son eklenen ürünü duyurdu. Türünün ilk örneği olan Çift Taramalı Profilometre, eşzamanlı kalınlık ve çift profilometri taraması sağlıyor. İki kalem arasındaki bir platforma sabitlenen numune tablası, x-y yönünde hareket ederek iki probun senkronize bir yüzey profili belirlemesini sağlar. Sistem yazılımı, herhangi bir noktada numunenin kalınlığını belirlemek için numune yüzeyinden yansıyan beyaz ışığın dalga boyu ile kalemler arasındaki bilinen mesafeyi hesaplar. Kromatik Aberasyon prensibini kullanarak, iki kalem beyaz ışığı objektif merceğinden geçirir ve bu ışığı numune yüzeyinden yansıtır. Lens daha sonra gelen beyaz ışığın dalga boyunu toplar ve lensten değişken bir mesafede yeniden odaklar. Bu özel teknoloji Micro Photonics Inc. tarafından sunulmaktadır. Micro Photonics, on iki yılı aşkın bir süredir malzeme teknolojisi cihazları ve laboratuvar testleri konusunda lider bir tedarikçidir. Şirket şu alanlarda uzmanlaşmıştır: Nano ve Mikro Mekanik Testler, X-Ray Mikro Tomografi, Elipsometre, X-Ray Kırınımı, 3D Temassız Profilometreİnce Film Analizi, Biyolojik Görüntüleme Cihazları ve NSOM, SPM ve AFM sistemleri.
Mikro Fotonik, Sıcaklığa Özel Mekanik Testler için Çığır Açan Teknoloji Sunuyor
Irvine, California - 22 Nisan 2004 - Yüzey malzemeleri cihazları ve laboratuvar hizmetleri alanında lider bir tedarikçi olan Micro Photonics Inc. malzeme teknolojisinde çığır açacak bir yenilik olan sıcaklığa özel mekanik testleri tanıttı. Araştırmacılar ısıtma/soğutma modülünü sertlik ya da çizik platformlarına kolayca takarak -196°C ile 600°C arasında sıcaklıklar elde edebiliyor. Platin direnç bobininden ve neredeyse tamamen kapsülleyici muhafazadan oluşan ve böylece termal kaymayı azaltan modül, yerine yerleştirildikten sonra son derece kararlı ve doğru sıcaklık kontrolü sağlar. Nano/Mikro Sertlik platformunun kullanılması bir başka benzersiz avantaj daha sunmaktadır: test edilen numunenin doğal termal genleşmesinin etkilerine karşı koymak için diferansiyel yüzey-indenter derinliği tekniği, diğer sertlik test cihazlarında bulunmayan bir teknoloji. İndentasyon testlerinin çoğu oda sıcaklığında gerçekleştirilerek verimli sonuçlar elde edilse de, belirli malzemelerin mekanik özelliklerinin hizmet içi sıcaklıklarında veya buna yakın sıcaklıklarda araştırılması ihtiyacı son yıllarda önemli ölçüde artmış ve bu teknolojinin geliştirilmesine yol açmıştır. Micro Photonics, aşağıdakiler de dahil olmak üzere çok çeşitli yüzey metrolojisi cihazları için sözleşmeli laboratuvar test hizmetleri, cihazlar, satış sonrası servis ve eğitim sunmaktadır: nano/mikro mekanik testlersürtünme, aşınma, yapışma, çizilme direnci ve kırılma tokluğu. İnce film kalınlığı ve optik özellikler (n&k) için elipsometreler ve pürüzlülük, boyutsal analiz ve eğrilik yarıçapı ve kalınlık özelliklerini incelemek için çok çeşitli temassız yüzey profilleme cihazları mevcuttur. Ayrıca Micro Photonics, iç mikro yapıları görüntülemek ve analiz etmek için x-ışını mikrotomograghi cihazları sunmaktadır.
