MEDIÇÃO DA PLANICIDADE DA SUPERFÍCIE | WARPAGE & PLANARITY
Instrumentos de perfilômetro | Serviços de Laboratório | Luz Confocal Cromática | Notas de Aplicação
A técnica cromática confocal é ideal para medir a planicidade da superfície, a deformação e a planaridade em aplicações onde muitas vezes é crítica, como para micro peças, vidro, vedações e muitas outras. Como não são necessárias costuras para grandes superfícies, a técnica cromática confocal pode medir com precisão em segundos estes, além de detectar defeitos locais. Com o HS2000, a planicidade da superfície pode ser medida na área total de 400x500mm com menos de 1micron de desvio em um tempo muito curto. Também é possível obter o polinômio mais adequado da forma que causa o desvio na planicidade da superfície. Com reconhecimento de padrões e automação, além de condições de falhas de passagem e comunicação com banco de dados, o instrumento pode ser usado como uma ferramenta avançada de controle de qualidade.
Normas:
- ISO 25178
- ISO 4287
- ISO 13565-2
- ISO 12085
- ISO 12780
- ISO 12181
Análise de Medição Padrão:
- Ondulação e planicidade da superfície 3D e 2D
- Melhor jogo polinomial
- Material e relações de rolamento
Características do software:
- Digitalizações de linha ou área facilmente definidas
- Receitas
- Resolução lateral
- Exportar dados brutos e imagens
- Exibição em tempo real
- Relatórios automáticos
- Suporte multilíngüe
- Mapeamento
Características do software de análise:
- Filtragem
- Nivelamento
- Thresholding
- Zooming
- Ferramentas de seleção de área e remoção de formulários
- Subtrair e comparar funções e muitas outras
Automação avançada:
- Foco automático (óptico e microscópio), modelo de análise automática
- Macros de manuseio de amostras múltiplas
- Fácil seleção de área sob o microscópio para a criação de perfis ou testes de AFM
- Dupla freqüência automática para superfícies com diferentes reflextividades
- Etapa rotacional
- Reconhecimento de padrões
- Comunicações de banco de dados
- Limites de aprovação/falência
- Sensores de linha para medições até 200 vezes mais rápidas
Titulares da(s) amostra(s) e condições ambientais:
- Porta amostras personalizadas e padrão
- Etapa de aquecimento
Medidas de Superfície Adicionais:
Medição da Rugosidade da Superfície
Medição do Perfil de Superfície
Medição de Topografia de Superfície
Medição da Altura da Superfície