MESSUNG DER OBERFLÄCHENEBENHEIT | VERZUG & EBENHEIT

Die chromatisch konfokale Technik eignet sich ideal für die Messung von Oberflächenebenheit, Verzug und Ebenheit bei Anwendungen, bei denen dies oft kritisch ist, wie bei Mikroteilen, Glas, Dichtungen und vielen anderen. Da für große Oberflächen keine Nähte erforderlich sind, kann die chromatisch konfokale Technik diese zusätzlich zur Erkennung lokaler Defekte innerhalb von Sekunden genau messen. Mit dem HS2000 kann die Oberflächenebenheit auf der gesamten Fläche von 400 x 500 mm mit einer Abweichung von weniger als 1 Mikrometer in sehr kurzer Zeit gemessen werden. Es ist auch möglich, das beste Anpassungspolynom der Form zu erhalten, die die Abweichung der Oberflächenebenheit verursacht. Mit Mustererkennung und Automatisierung, zusätzlich zu Pass-Fail-Bedingungen und Datenbankkommunikation, kann das Gerät als fortschrittliches Qualitätskontrollinstrument eingesetzt werden.

Normen:

• ISO 25178
• ISO 4287
• ISO 13565-2
• ISO 12085
• ISO 12780
• ISO 12181

Analyse von Standardmessungen:

• 3D- und 2D-Welligkeit und Ebenheit von Oberflächen
• Beste polynomielle Übereinstimmung
• Material- und Tragfähigkeitsverhältnisse

Software-Merkmale:

• Einfach zu definierende Linien- oder Flächenscans
• Rezepte
• Seitliche Auflösung
• Rohdaten und Bilder exportieren
• Anzeige in Echtzeit
• Automatische Berichterstattung
• Unterstützung mehrerer Sprachen
• Kartierung

Analyse-Software-Funktionen:

• Filtern
• Nivellierung
• Schwellenwert
• Zoomen
• Werkzeuge zur Bereichsauswahl und Formularentfernung
• Subtraktions- und Vergleichsfunktionen und viele andere

Erweiterte Automatisierung:

• Automatischer Fokus (optisch und mikroskopisch), automatische Analyseschablone
• Makros zur Handhabung mehrerer Proben
• Einfache Auswahl des Bereichs unter dem Mikroskop für die Profilerstellung oder AFM-Prüfung
• Automatische Doppelfrequenz für Oberflächen mit unterschiedlichen Reflexionsgraden
• Rotationsphase
• Mustererkennung
• Datenbank-Kommunikation
• Pass/Fail-Grenzen
• Zeilensensoren für bis zu 200-mal schnellere Messungen

Halter der Probe(n) und Umweltbedingungen:

• Kundenspezifische und Standard-Probenhalter
• Heizstufe

Zusätzliche Oberflächenabmessungen:

Messung der Oberflächenrauhigkeit

Messung des Oberflächenprofils

Messung der Oberflächentopographie

Messung des Oberflächenvolumens

Messung der Stufenhöhe an der Oberfläche