MEDICIÓN DE LA PLANITUD DE LA SUPERFICIE | ALABEO Y PLANARIDAD

La técnica confocal cromática es ideal para medir la planitud de la superficie, el alabeo y la planaridad en aplicaciones en las que suele ser crítico, como en el caso de las micropiezas, el vidrio, las juntas y muchas otras. Dado que no es necesario coser las grandes superficies, la técnica confocal cromática puede medirlas con precisión en segundos, además de detectar defectos locales. Con el HS2000 se puede medir la planitud de la superficie en toda el área de 400x500mm con menos de 1micra de desviación en muy poco tiempo. También es posible obtener el mejor polinomio de coincidencia de la forma que provoca la desviación en la planitud de la superficie. Gracias a los reconocimientos de patrones y a la automatización, además de las condiciones de aprobado y suspenso y la comunicación con la base de datos, el instrumento puede utilizarse como una herramienta avanzada de control de calidad.

Normas:

• ISO 25178
• ISO 4287
• ISO 13565-2
• ISO 12085
• ISO 12780
• ISO 12181

Análisis de medidas estándar:

• Ondulación y planitud de la superficie en 3D y 2D
• Mejor coincidencia polinómica
• Relación de materiales y rodamientos

Características del software:

• Escaneos de línea o de área fácilmente definidos
• Recetas
• Resolución lateral
• Exportación de datos e imágenes en bruto
• Visualización en tiempo real
• Informes automáticos
• Soporte multilingüe
• Cartografía

Características del software de análisis:

• Filtrado
• Nivelación
• Umbralización
• Zooming
• Herramientas de selección de áreas y eliminación de formularios
• Funciones de sustracción y comparación y muchas otras

Automatización avanzada:

• Enfoque automático (óptico y de microscopio), plantilla de análisis automática
• Macros de manejo de múltiples muestras
• Fácil selección de la zona bajo el microscopio para la realización de perfiles o pruebas de AFM
• Doble frecuencia automática para superficies con distintas reflectividades
• Etapa de rotación
• Reconocimiento de patrones
• Comunicaciones de la base de datos
• Límites de aprobado/reprobado
• Sensores de línea para mediciones hasta 200 veces más rápidas

Portamuestras y condiciones ambientales:

• Portamuestras personalizados y estándar
• Etapa de calentamiento

Medidas adicionales de la superficie:

Medición de la rugosidad de la superficie

Medición del perfil de la superficie

Medición de la topografía de la superficie

Medición del volumen de la superficie

Medición de la altura del escalón de la superficie