POMIAR PŁASKOŚCI POWIERZCHNI | WYPACZENIA I PLANARNOŚĆ

Chromatyczna technika konfokalna jest idealna do pomiaru płaskości powierzchni, odkształceń i planarności w aplikacjach, gdzie jest to często krytyczne, takich jak mikro części, szkło, uszczelnienia i wiele innych. Ponieważ w przypadku dużych powierzchni nie jest wymagane zszywanie, chromatyczna technika konfokalna może w ciągu kilku sekund dokonać dokładnych pomiarów, które dodatkowo wykrywają lokalne defekty. Dzięki HS2000 płaskość powierzchni może być mierzona na pełnym obszarze 400x500mm z odchyleniem mniejszym niż 1 mikron w bardzo krótkim czasie. Możliwe jest również uzyskanie najlepiej dopasowanego wielomianu kształtu, który powoduje odchylenie płaskości powierzchni. Dzięki rozpoznawaniu wzorców i automatyzacji, oprócz warunków pass fail i komunikacji z bazą danych, urządzenie może być wykorzystywane jako zaawansowane narzędzie kontroli jakości.

Normy:

• ISO 25178
• ISO 4287
• ISO 13565-2
• ISO 12085
• ISO 12780
• ISO 12181

Analiza pomiarów standardowych:

• Falistość i płaskość powierzchni 3D i 2D
• Najlepsze dopasowanie wielomianu
• Współczynniki materiałowe i nośności

Cechy oprogramowania:

• Łatwe do zdefiniowania skanowanie linii lub obszaru
• Przepisy
• Rozdzielczość boczna
• Eksportowanie surowych danych i obrazów
• Wyświetlacz czasu rzeczywistego
• Automatyczne raportowanie
• Obsługa wielu języków
• Mapowanie

Cechy oprogramowania analitycznego:

• Filtrowanie
• Leveling
• Progowanie
• Zooming
• Narzędzia do wyboru obszaru i usuwania formularzy
• Funkcje odejmowania i porównywania oraz wiele innych

Zaawansowana automatyka:

• Automatyczna ostrość (optyczna i mikroskopowa), automatyczny szablon analizy
• Makra obsługi wielu próbek
• Łatwy wybór obszaru pod mikroskopem do profilowania lub badania AFM
• Automatyczna podwójna częstotliwość dla powierzchni o różnej refleksyjności
• Stopień rotacyjny
• Rozpoznawanie wzorów
• Komunikacja z bazą danych
• Limity zaliczeń
• Czujniki liniowe zapewniające do 200 razy szybsze pomiary

Posiadacz(e) próbek i warunki środowiskowe:

• Niestandardowe i standardowe uchwyty do próbek
• Stopień ogrzewania

Dodatkowe pomiary powierzchni:

Pomiar chropowatości powierzchni

Pomiar profilu powierzchni

Pomiar topografii powierzchni

Pomiar objętości powierzchni

Pomiar wysokości uskoku na powierzchni