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이 애플리케이션에서 나노베아 ST400 프로파일 미터 는 유연한 세라믹 시트에 인쇄된 전극을 측정하는 데 사용됩니다. 측정된 면적은 훨씬 더 큰 표면에 대한 가정을 할 수 있을 정도로 충분히 컸습니다. 높이와 측면 치수를 측정하여 이 샘플의 직사각형 특징을 특성화합니다.

3D 프로파일 측정을 이용한 인쇄 전극의 단 높이 측정

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