다양한 온도에서 테프론 샘플의 스크래치 트랙 프로파일은 서로 다른 온도에서 스크래치 경도를 비교하기 위해 그림 1에 나와 있습니다. 스크래치 트랙 가장자리에 쌓인 재료는 스타일러스가 2N의 일정한 하중으로 이동하고 테프론 샘플을 쟁기질하면서 스크래치 트랙의 재료를 옆으로 밀고 변형시키면서 형성됩니다.

그림 2와 같이 스크래치 트랙을 광학 현미경으로 검사했습니다. 측정된 스크래치 트랙 폭과 계산된 스크래치 경도 수치(HSP)는 그림 3에 요약되어 비교되어 있습니다. 현미경으로 측정한 스크래치 트랙 폭은 나노베아 프로파일러로 측정한 것과 일치하며, 테프론 샘플은 더 높은 온도에서 더 넓은 스크래치 폭을 나타냅니다. 스크래치 트랙 폭은 온도가 RT에서 300oC로 상승함에 따라 281µm에서 539µm로 증가하며, 그 결과 HSP는 65에서 18MPa로 감소합니다.

고온에서의 스크래치 경도는 나노베아 T50 트라이보미터를 사용하여 높은 정밀도와 반복성으로 측정할 수 있습니다. 이 제품은 다른 경도 측정의 대체 솔루션을 제공하며, 나노베아 트라이보미터를 포괄적인 고온 트라이보 기계 평가를 위한 보다 완벽한 시스템으로 만들어 줍니다.