월간 아카이브: 7월 2016

몇 초 만에 절삭 공구 모서리 측정

2016년 7월 27일, 어바인, 캘리포니아 - 기존의 프로파일 측정은 하나의 고정된 방향에서 시료 표면을 스캔합니다. 이는 정밀한 360° 회전이 필요한 원통형과 달리 충분히 평평한 샘플을 측정하는 경우에만 적합합니다. 공구의 나선형 절삭날 특성 분석과 같은 애플리케이션의 경우, 기존 장비는 전체 부품을 다양한 각도에서 여러 번 스캔해야 하고 스캔 후 상당한 데이터 조작이 필요합니다. 이는 매우 특정 영역에서만 측정이 필요한 QC 애플리케이션의 경우 시간이 너무 많이 소요되는 경우가 많습니다.

나노베아의 회전 스테이지는 횡축과 회전축의 동시 모션 제어를 통해 이 문제를 해결합니다. 이 기술을 사용하면 전체 부품을 측정하고 지속적으로 재조정하는 데 많은 시간이 소요되지 않습니다. 대신 전체 절삭 날의 전체 둘레를 몇 초 만에 측정할 수 있습니다. 원하는 모든 각도와 특징을 스캔에서 직접 결정할 수 있으므로 여러 파일을 광범위하게 스티칭할 필요가 없습니다.

나노베아의 색채 공초점 기술은 초점 변화 경쟁사보다 2.7nm까지 훨씬 더 높은 해상도와 정확도를 제공합니다. 원시 표면 높이는 표면에 초점을 맞춘 파장의 검출을 통해 직접 측정되며 간섭계 기술로 인한 오차가 없고 시야각 제한이 없으며 시료 표면 준비가 필요하지 않습니다. 반사율이 매우 높거나 낮은 재료도 쉽게 측정할 수 있으며 매우 높은 벽면 각도도 문제없이 정확하게 특성화할 수 있습니다.

나노베아의 라인 센서와 결합하면 스캔 방향으로 최대 150mm까지 선형으로 이동하면서 최대 4.78mm 너비의 데이터 바를 한 번에 캡처할 수 있습니다. 동시에 회전 스테이지가 원하는 속도로 샘플을 회전시킬 수 있습니다. 이 시스템을 종합하면 다른 기술에 비해 훨씬 짧은 시간 내에 피치나 반경에 관계없이 절삭날 전체 둘레의 연속적인 3D 높이 맵을 생성할 수 있습니다.

앱 노트를 참조하세요: 3D 프로파일 측정을 이용한 회전 측정