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AR Scansione ultrarapida ineguagliabile a
384.000 punti/s
Modular Optical Profilometer – NANOVEA ST400
NANOVEA ST400 is a modular optical profilometer for non-contact surface measurement, designed as a versatile platform for both research and quality control environments.
As NANOVEA’s flagship optical surface profilometer, it is built on chromatic light technology to deliver reliable, high-speed 2D and 3D surface characterization with continuous scanning and flexible configurations, making it the standard choice for laboratories requiring accuracy, scalability, and long-term adaptability.
200 mm @ 40 mm/s
SCANSIONE CONTINUA
200 x 150 mm X-Y axis travel with speeds up to 40 mm/s. Delivers fast measurements.
Stitching Free!
ALTA QUALITÀ CONTROLLO QUALITÀ
Il software avanzato consente di selezionare facilmente le zone sullo schermo da sottoporre a scansione automatica.
Sono disponibili opzioni QC per automatizzare tutti gli aspetti dei test, tra cui il riconoscimento dei modelli, la comunicazione con il database, i programmi macro e le ricette di analisi.
LIBERAMENTE PERSONALIZZABILE.
UNICAMENTE TUO
UNICAMENTE TUO
Sono disponibili stage X-Y più grandi, stage rotanti a 360° e molte configurazioni personalizzate.
Area di scansione X - Y
200 x 150 mm Motorizzato
Gamma di altezza
nm to cm
Dimensioni
62 x 62 x 82 cm
Velocità di scansione
40 mm/s
Ideale per gli angoli molto inclinati
Veloce per grandi aree
Molto facile da usare
Nessun stitching dell'immagine
Nessuna preparazione del campione
Nessuna rifocalizzazione
PROFILOMETRIA SENZA CONTATTO 2D E 3D
