PL 
EN 
ES 
DE 
FR 
IT 
ZH 
JA 
PT 
TR 
KO 
AR Niezrównane ultraszybkie skanowanie przy
384 000 punktów/s
Modular Optical Profilometer – NANOVEA ST400
NANOVEA ST400 is a modular optical profilometer for non-contact surface measurement, designed as a versatile platform for both research and quality control environments.
As NANOVEA’s flagship optical surface profilometer, it is built on chromatic light technology to deliver reliable, high-speed 2D and 3D surface characterization with continuous scanning and flexible configurations, making it the standard choice for laboratories requiring accuracy, scalability, and long-term adaptability.
200 mm @ 40 mm/s
SKANOWANIE CIĄGŁE
Przesuw osi X-Y 200 x 150 mm z prędkością do 40 mm/s. Zapewnia szybkie pomiary.
Stitching Free!.
WYSOKA JAKOŚĆ KONTROLA JAKOŚCI
Zaawansowane oprogramowanie ułatwia wybór stref na ekranie, które mają być automatycznie skanowane.
Dostępne są opcje QC umożliwiające automatyzację wszystkich aspektów badania, w tym rozpoznawanie wzorców, komunikację z bazą danych, makroprogramy i receptury analityczne.
MOŻLIWOŚĆ DOWOLNEGO DOPASOWANIA.
NIEPOWTARZALNA TWOJA
NIEPOWTARZALNA TWOJA
Dostępne są większe stopnie X-Y, stopnie obrotowe 360° i wiele niestandardowych konfiguracji.
Obszar skanowania X - Y
200 x 150 mm Napęd
Zakres wysokości
nm to cm
Wymiary pulpitu
62 x 62 x 82 cm
Prędkość skanowania
40 mm/s
Najlepszy dla stromych kątów
Szybkie działanie na dużych powierzchniach
Bardzo łatwy w użyciu
Brak zszywania obrazów
Brak przygotowania próbki
Brak ponownego skupienia
