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Large Area Optical Profilometer – NANOVEA ST500

NANOVEA ST500 is a large area optical profilometer for non-contact surface measurement, designed for high-speed scanning of oversized samples.

Built on NANOVEA’s chromatic light technology, the ST500 delivers accurate 2D and 3D surface characterization with continuous scanning over extended travel ranges, making it ideal for applications where area coverage, speed, and measurement reliability are critical.

NANOVEA ST500 large area optical profilometer for high-speed non-contact surface measurement

400 mm @ 200 mm/s
SCANSIONE CONTINUA

Corsa dell'asse X-Y di 400 x 400 mm con velocità fino a 200 mm/s. Garantisce misure ultrarapide.
Cucitura libera!

Scansione ultrarapida ineguagliabile a

384.000 punti/s

ALTA QUALITÀ CONTROLLO QUALITÀ

Completamente programmabile... L'unico sistema necessario per il controllo qualità e la ricerca con una precisione nanometrica.

Area di scansione X - Y

400 x 400 mm Motorizzato

Gamma di altezza

nm to cm

Dimensioni

97 x 72 x 92 cm

Velocità di scansione

200 mm/s

Profilometria - Tecnologia dei sensori confocali cromatici
Ideale per gli angoli molto inclinati
Veloce per grandi aree
Molto facile da usare
Nessun stitching dell'immagine
Nessuna preparazione del campione
Nessuna rifocalizzazione