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AR 타의 추종을 불허하는 초고속 스캔
384,000 포인트/s
ST500
초고속 대면적 프로파일로미터
400mm @ 200mm/s
연속 스캔
최대 200mm/s의 속도로 400 x 400mm X-Y 축 이동. 초고속 측정을 제공합니다.
무료 스티칭!
고품질 품질 관리
완전 프로그래밍 가능... 나노미터 정확도의 품질 관리 및 연구에 필요한 유일한 시스템입니다.
X - Y 스캔 영역
400 x 400mm 전동식
높이 범위
110 µm ~ 24 mm
데스크톱 크기
97 x 72 x 92 cm
스캔 속도
200 mm/s
