MESURES DE PLANÉITÉ | DE GAUCHISSEMENT | DE PLANÉITÉ

La technique confocale chromatique est idéale pour la mesure de la planéité, du gauchissement et de la planéité des surfaces dans des applications où elle est souvent critique comme pour les micro-pièces, le verre, les joints et bien d'autres. Parce qu'il n'est nécessaire de coller plusieurs images pour couvrir de grandes surfaces, la technique confocale chromatique peut mesurer avec précision en quelques secondes ces propriétés en plus de détecter les défauts locaux. Avec le HS2000, la planéité de la surface peut être mesurée sur toute la surface de 400x500mm avec moins de 1micron de déviation en un temps très court. Il est également possible d'obtenir le meilleur polynôme qui correspond à la forme qui décrit la variation par rapport à la planéité de la surface. Grâce à la reconnaissance de formes, à l'automatisation, des critères d'acceptation/de rejet et de la communication avec la base de données, l'instrument peut être utilisé comme un outil avancé de contrôle de la qualité.

Normes :

• ISO 25178
• ISO 4287
• ISO 13565-2
• ISO 12085
• ISO 12780
• ISO 12181

Analyse des mesures standard :

• Ondulation et planéité des surfaces 3D et 2D
• Meilleure correspondance polynomiale
• Taux de Portance

Caractéristiques du logiciel :

• Sélection des paramètres faciles pour tests lignes ou aréas
• Recettes
• Résolution latérale
• Exportation des données brutes et des images
• Affichage en temps réel
• Rapports automatiques
• Support multilingue
• Cartographie

Caractéristiques du logiciel d'analyse :

• Filtrage
• Mise à niveau
• Seuillage
• Zooming
• Outils de sélection des zones et de l'élimination de la forme
• Fonctions de soustraction et de comparaison et bien d'autres encore

Automatisation avancée :

• Mise au point automatique (optique et microscope), modèle d'analyse automatique
• Macros pour tests de plusieurs échantillons
• Sélection facile de la zone sous le microscope pour les tests de profilométrie ou de AFM
• Double fréquence automatique pour les surfaces à réflectivité variable
• Platine Rotationnelle
• Reconnaissance des formes
• Communication des bases de données
• Critères d'acceptation/de rejet
• Capteurs linéaires pour des mesures jusqu'à 200 fois plus rapides

Porteurs d'échantillon(s) et conditions environnementales :

• Porte-échantillons personnalisés et standard
• Plaque chauffante

Mesures supplémentaires de la surface :

Mesure de la rugosité de surface

Mesure du profil de la surface

Mesure de la topographie de surface

Mesure du volume de la surface

Mesure de la hauteur des marches de la surface