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MESURE DU VOLUME DE SURFACE

Instruments de profilométrie | Services de laboratoire | Chromatique Confocale | Notes d'application

La technique confocale chromatique offre le plus haut niveau de précision pour la mesure de volume sur la plus grande variété de matériaux. En effet, cette technique mesure une longueur d'onde physique directe liée à une hauteur spécifique, ce qui garantit la précision des données. Presque toutes les surfaces de matériaux peuvent être mesurées, y compris les surfaces textiles et fortement corrodées, et les angles de surface les plus élevés peuvent être mesurés sans avoir recours à des algorithmes. Les paramètres de test n'ayant aucun effet sur les résultats, les données répétables sont faciles à comparer d'un échantillon à l'autre et d'un instrument à l'autre. Grâce à la reconnaissance de formes, à l'automatisation, aux critères d'acceptation/de rejet et de la communication avec la base de données, l'instrument peut être utilisé comme un outil avancé de contrôle de la qualité.

 

Normes :

  • ISO 25178
  • ISO 4287
  • ISO 13565
  • ISO 12085
  • ISO 12780
  • ISO 12181

 

Analyse des mesures standard :

  • Volume du vide
  • Volume de la colline ou de la vallée
  • Pic ou fosse
  • Surface
  • Profondeurs maximales et minimales
  • Plus haut sommet

 

Caractéristiques du logiciel :

  • Sélection des paramètres faciles pour tests lignes ou aréas
  • Recettes
  • Résolution latérale
  • Exportation des données brutes et des images
  • Affichage en temps réel
  • Rapports automatiques
  • Support multilingue
  • Cartographie

 

Caractéristiques du logiciel d'analyse :

  • Filtrage
  • Mise à niveau
  • Seuillage
  • Zooming
  • Outils de sélection des zones et de l'élimination de la forme
  • Fonctions de soustraction et de comparaison et bien d'autres encore

 

Automatisation avancée :

  • Mise au point automatique (optique et microscope), modèle d'analyse automatique
  • Macros pour tests de plusieurs échantillons
  • Sélection facile de la zone sous le microscope pour les tests de profilométrie ou de AFM
  • Double fréquence automatique pour les surfaces à réflectivité variable
  • Platine rotative (optionelle)
  • Reconnaissance des formes
  • Communication des bases de données
  • Critères d'acceptation/de rejet
  • Capteurs linéaires pour des mesures jusqu'à 200 fois plus rapides

 

Porteurs d'échantillon(s) et conditions environnementales :

  • Porte-échantillons personnalisés et standard
  • Plaque chauffante

 

Mesures supplémentaires de la surface :

Mesure de la rugosité de surface

Mesure du profil de la surface

Mesure de la topographie de surface

Mesure de la planéité des surfaces

Mesure de la hauteur des marches de la surface