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MEDICIÓN DE LA TOPOGRAFÍA DE LA SUPERFICIE | FORMA

Instrumentos de perfilometría | Servicios de Laboratorio | Confocal Cromática | Notas de aplicación

Con un amplio rango de altura de hasta 25 mm y la capacidad de medir ángulos pronunciados, la técnica confocal cromática es ideal para las mediciones de topografía, forma y figura en superficies desconocidas y complejas como tejidos blandos, plantas y rocas, piezas pequeñas y muchas otras. Dado que no se necesita coser para las grandes superficies, la técnica confocal cromática puede medir los datos de forma requeridos en unos pocos segundos. Los datos resultantes son la mejor correspondencia polinómica para la forma que se está probando. Gracias al reconocimiento de patrones y a la automatización, además de las condiciones de aprobado y suspenso y la comunicación con la base de datos, el instrumento puede utilizarse como una herramienta avanzada de control de calidad para las mediciones de formas.

 

Normas:

  • ISO 25178
  • ISO 4287
  • ISO 13565-2
  • ISO 12085
  • ISO 12780
  • ISO 12181

 

Análisis de medidas estándar:

  • Parámetros de ondulación y colocación
  • Asimetría y curtosis
  • Comparación o sustracción de superficies
  • Curva Abbott-Firestone
  • Mejor coincidencia polinómica

 

Características del software:

  • Escaneos de línea o de área fácilmente definidos
  • Recetas
  • Resolución lateral
  • Exportación de datos e imágenes en bruto
  • Visualización en tiempo real
  • Informes automáticos
  • Soporte multilingüe
  • Cartografía

 

Características del software de análisis:

  • Filtrado
  • Nivelación
  • Umbralización
  • Zooming
  • Herramientas de selección de áreas y eliminación de formularios
  • Funciones de sustracción y comparación y muchas otras

 

Automatización avanzada:

  • Enfoque automático (óptico y de microscopio), plantilla de análisis automática
  • Macros de manejo de múltiples muestras
  • Fácil selección de la zona bajo el microscopio para la realización de perfiles o pruebas de AFM
  • Doble frecuencia automática para superficies con distintas reflectividades
  • Etapa de rotación
  • Reconocimiento de patrones
  • Comunicaciones de la base de datos
  • Límites de aprobado/reprobado
  • Sensores de línea para mediciones hasta 200 veces más rápidas

 

Portamuestras y condiciones ambientales:

  • Portamuestras personalizados y estándar
  • Etapa de calentamiento

 

Medidas adicionales de la superficie:

Medición de la rugosidad de la superficie
Medición del perfil de la superficie
Medición de la planicidad de la superficie
Medición del volumen de la superficie
Medición de la altura del escalón de la superficie