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MEDICIÓN DE LA TOPOGRAFÍA DE LA SUPERFICIE | FORMA Y CONFIGURACIÓN

Instrumentos perfilómetros | Servicios de laboratorio | Confocal cromático | Notas de aplicación

Con un amplio rango de altura de hasta 25 mm y la capacidad de medir ángulos pronunciados, la técnica confocal cromática es ideal para medir la topografía, la forma y la configuración de superficies desconocidas y complejas, como tejidos blandos, plantas y rocas, piezas pequeñas y muchas otras. Dado que no es necesario realizar uniones para superficies grandes, la técnica confocal cromática puede medir los datos de forma y configuración necesarios en pocos segundos. Los datos resultantes son la mejor coincidencia polinómica para la forma sometida a prueba. Con el reconocimiento de patrones y la automatización, además de las condiciones de aprobado/reprobado y la comunicación con la base de datos, el instrumento puede utilizarse como una herramienta avanzada de control de calidad para mediciones de forma y configuración.

 

Normas:

  • ISO 25178
  • ISO 4287
  • ISO 13565-2
  • ISO 12085
  • ISO 12780
  • ISO 12181

 

Análisis de medición estándar:

  • Parámetros de ondulación y disposición
  • Asimetría y curtosis
  • Comparación o sustracción de superficies
  • Curva de Abbott-Firestone
  • Mejor coincidencia polinómica

 

Características del software:

  • Escaneos de líneas o áreas fácilmente definibles
  • Recetas
  • Resolución lateral
  • Exportar datos sin procesar e imágenes
  • Visualización en tiempo real
  • Informes automáticos
  • Soporte multilingüe
  • Cartografía

 

Características del software de análisis:

  • Filtrado
  • Nivelación
  • Umbral
  • Acercar
  • Herramientas de selección de área y eliminación de formas
  • Funciones de resta y comparación, entre muchas otras.

 

Automatización avanzada:

  • Enfoque automático (óptico y microscopio), plantilla de análisis automático
  • Macros para el manejo de múltiples muestras
  • Fácil selección del área bajo el microscopio para la creación de perfiles o pruebas AFM.
  • Doble frecuencia automática para superficies con reflectividades variables.
  • Etapa rotacional
  • Reconocimiento de patrones
  • Comunicaciones de bases de datos
  • Límites de aprobado/reprobado
  • Sensores lineales para mediciones hasta 200 veces más rápidas

 

Portamuestras y condiciones ambientales:

  • Portamuestras personalizados y estándar
  • Etapa de calentamiento

 

Medidas adicionales de la superficie:

Medición de la rugosidad superficial
Medición del perfil de la superficie
Medición de la planitud de la superficie
Medición del volumen superficial
Medición de la altura de los escalones de la superficie