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  • INSPECCIÓN AUTOMATIZADA

    En una gama más amplia de geometrías y materiales
    que cualquier otro sistema de inspección óptica.

    Inspección óptica automatizada

INTRODUCCIÓN DE LA INSPECCIÓN ÓPTICA AUTOMATIZADA

Inspección óptica automatizada (AOI) Nanovea con óptica de vanguardia que utiliza tecnología confocal cromática superior. Durante la medición se obtiene automáticamente una gama que va de lo nanométrico a lo macro (dimensión del perfil, rugosidad, textura del acabado, topografía de la forma, alabeo de la planitud, área de volumen, profundidad, espesor y otros) en una gama más amplia de geometrías y materiales que cualquier otro sistema de inspección óptica basado en visión o láser. Con el uso de una amplia gama de plumas ópticas, la inspección óptica puede medir con precisión un sinfín de aplicaciones. La inspección óptica Nanovea tiene una influencia nula de la reflectividad de la muestra, las variaciones no requieren preparación de la muestra y tienen una capacidad avanzada para medir ángulos de superficie elevados. Mide fácilmente cualquier material: transparente, opaco, especular, difusivo, pulido, rugoso, etc. A diferencia de otras técnicas de medición óptica, se pueden medir con precisión grandes superficies sin necesidad de coser imágenes. Los perfilómetros Nanovea pueden fabricarse con tamaños, velocidades y capacidades de escaneado personalizados, en conformidad con la clase 1 de salas limpias, con transportador de indexación y para medición en línea o en línea. Para saber más sobre Nanovea bench top Perfilómetros. *Para más información sobre los sistemas AOI, póngase en contacto directamente con Nanovea.


INSPECCIÓN ÓPTICA AUTOMATIZADA

Gama Nano a Macro


INSPECCIÓN
SISTEMA Y SOFTWARE

Perfilómetro HS1000

Perfilómetro HS2000 | Inspección óptica automatizada
Inspección óptica automatizada a velocidades 50 veces superiores a las de la mayoría de los sistemas de inspección de su clase. Las velocidades de inspección pueden alcanzar hasta 1 m/s y la adquisición de datos hasta 31 kHz, lo que proporciona una inspección crucial para entornos de producción y control de calidad con más limitaciones de tiempo. El HS1000 está fabricado principalmente en granito para proporcionar una estabilidad superior y se suministra con una estación de trabajo con armario opcional para crear un instrumento autónomo totalmente contenido. El HS1000 también puede equiparse con un sensor de línea de 180 puntos para que la inspección sea hasta 180 veces más rápida, lo que proporciona una velocidad de etapa de 1 m/s y una velocidad de adquisición de hasta 324.000. Es la opción ideal para entornos de automatización de alta velocidad y control de calidad. Se han construido versiones optimizadas del perfilómetro HS1000 para entornos de producción fotovoltaica, microelectrónica y de asféricos. Capaz de altas velocidades, adquiriendo hasta 31.000 puntos por segundo y escaneando áreas de hasta 1m x 1m. Las mediciones pueden abarcar desde la planitud microelectrónica hasta la topografía y dimensión asféricas, pasando por la planitud de las células solares. Disponible como equipo independiente o integrado en línea para inspección de control de calidad.

- Alta velocidad - Automatizado - Tecnología fácil de usar - Reconocimiento de patrones de imagen (PRVision) - Estructura de granito mejorada - Estación de trabajo con armario de seguridad - Transportador de indexación u opción de integración en línea - 31.000 puntos por segundo y áreas de escaneado de hasta 1 m x 1 m para el control de calidad en línea.

 

Software Nanovea PRVision

Software Reconocimiento de patrones 2D y análisis 3D
PRVision
reconocer automáticamente características a partir de un archivo de imagen entrenado por el usuario. La superficie se escanea mientras se reconocen automáticamente todas las características de interés; a continuación, se miden automáticamente todas las características encontradas o unas pocas seleccionadas por el usuario. PRVision también puede utilizarse para referenciar la orientación de la muestra durante una medición Macro, que corregirá automáticamente las rotaciones o desplazamientos creados al cargar y descargar las muestras de su soporte. Esta opción reducirá significativamente el tiempo de configuración cuando se mida un patrón de superficie o si se van a medir varias muestras. El software Nanovea 3D es el software de adquisición utilizado para el análisis posterior. El software permite al usuario definir el tamaño del área o línea a medir, así como la resolución lateral de la medición. El software también permite tres vistas diferentes de la medición en tiempo real: vistas transversales, descendentes y tridimensionales. Para facilitar la localización y medición de superficies pequeñas, una función de recentrado permite al usuario apuntar y hacer clic en la imagen escaneada para volver a centrar el siguiente escaneado en ese punto específico; o mediante el uso de una función de apuntar y hacer clic desde una cámara de vídeo offset opcional. La combinación de estas dos funciones permite detectar automáticamente características y defectos, recordar su ubicación y, a continuación, medir esa zona en 3D. Los datos 2D y 3D pueden utilizarse para comparar dimensiones, forma, rugosidad, volumen y mucho más con parámetros predefinidos de aprobado/no aprobado.