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AUTOMATISIERTE OPTISCHE INSPEKTION INTRO
Nanovea Automated Optical Inspection (AOI) mit modernster Optik und überlegener chromatischer Konfokaltechnologie. Der Nano- bis Makrobereich wird während der Messung automatisch erfasst (Profilabmessungen, Rauheit, Oberflächenbeschaffenheit, Formtopografie, Ebenheit, Verzug, Volumenbereich, Stufenhöhe, Dicke und andere), und zwar bei einer größeren Bandbreite von Geometrien und Materialien als bei jedem anderen optischen Inspektionssystem auf Bildverarbeitungs- oder Laserbasis. Durch die Verwendung einer großen Auswahl an optischen Stiften kann die optische Inspektion eine endlose Reihe von Anwendungen präzise messen. Die optische Inspektion von Nanovea hat keinen Einfluss auf die Reflektivität der Probe, die Variationen erfordern keine Probenvorbereitung und haben die fortschrittliche Fähigkeit, große Oberflächenwinkel zu messen. Sie können problemlos jedes Material messen: transparent, undurchsichtig, spiegelnd, diffus, poliert, rau usw. Im Gegensatz zu anderen optischen Messtechniken können große Oberflächenbereiche ohne bildgebende Verfahren präzise gemessen werden. Nanovea Profilometer können mit kundenspezifischen Größen, Geschwindigkeiten, Scanfunktionen, Reinraumklasse 1, mit Indexierband und für Inline- oder Online-Messungen gebaut werden. Um mehr über Nanovea Tischgeräte zu erfahren Profilometer. *Für weitere Spezifikationen zu AOI-Systemen wenden Sie sich direkt an Nanovea.
AUTOMATISCHE OPTISCHE INSPEKTION
Nano- bis Makrobereich
INSPEKTION
SYSTEM UND SOFTWARE
HS2000 Profilometer | Automatisierte optische Inspektion
Automatisierte optische Inspektion mit 50-mal höheren Geschwindigkeiten als die meisten Inspektionssysteme dieser Klasse. Prüfgeschwindigkeiten von bis zu 1m/s und eine Datenerfassung von bis zu 31KHz ermöglichen entscheidende Prüfungen in zeitkritischen Produktions- und Qualitätskontrollumgebungen. Das HS1000 besteht größtenteils aus Granit, um eine überragende Stabilität zu gewährleisten, und wird mit einer optionalen Gehäuseworkstation geliefert, um ein vollständig geschlossenes, eigenständiges Instrument zu schaffen. Das HS1000 kann auch mit einem 180-Punkt-Zeilensensor ausgestattet werden, um die Inspektion bis zu 180 Mal schneller zu machen, was eine Tischgeschwindigkeit von 1 m/s und eine Erfassungsrate von bis zu 324.000 ermöglicht. Die ideale Option für Hochgeschwindigkeits-Automatisierungs- und Qualitätskontrollumgebungen. Optimierte Versionen des HS1000 Profilometers wurden für Produktionsumgebungen in den Bereichen Photovoltaik, Mikroelektronik und Asphären entwickelt. Es kann hohe Geschwindigkeiten erreichen, bis zu 31.000 Punkte pro Sekunde erfassen und Bereiche von bis zu 1m x 1m scannen. Die Messungen können von der Planarität von Mikroelektronik über die Ebenheit von Solarzellen bis hin zur Topografie und Dimension von Asphären reichen. Erhältlich als Einzelgerät oder zur Inline-Integration für Qualitätskontrollprüfungen.
- Hochgeschwindigkeit - Automatisiert - Benutzerfreundliche Technologie - (PRVision) Bildmustererkennung - Verbesserte Granitstruktur - Arbeitsplatz mit Sicherheitsgehäuse - Option für Indexierband oder Inline-Integration - 31.000 Punkte pro Sekunde und Scanbereiche von bis zu 1 m x 1 m für die Inline-Qualitätskontrolle
Software | 2D-Mustererkennung und 3D-Analyse
PRVision automatische Erkennung von Merkmalen aus einer vom Benutzer trainierten Bilddatei. Die Oberfläche wird gescannt, während alle interessanten Merkmale automatisch erkannt werden. Anschließend werden entweder alle gefundenen Merkmale oder einige wenige, die vom Benutzer ausgewählt werden, automatisch gemessen. PRVision kann auch verwendet werden, um die Probenausrichtung während einer Makromessung zu referenzieren, wodurch Drehungen oder Verschiebungen, die beim Laden und Entladen der Proben aus dem Halter entstehen, automatisch korrigiert werden. Diese Option reduziert die Einrichtungszeit erheblich, wenn ein Oberflächenmuster oder mehrere Proben gemessen werden sollen. Die Nanovea 3D Software ist die Erfassungssoftware, die für die weitere Analyse verwendet wird. Mit der Software kann der Benutzer die Größe der zu messenden Fläche oder Linie sowie die seitliche Auflösung der Messung festlegen. Die Software ermöglicht außerdem drei verschiedene Ansichten der Messung in Echtzeit: Querschnitt, Draufsicht und 3-dimensionale Ansichten. Um das Auffinden und Messen von kleinen Oberflächen zu erleichtern, kann der Benutzer mit einer Funktion zur Neuzentrierung auf das gescannte Bild zeigen und klicken, um den nächsten Scan auf diesen spezifischen Punkt zu zentrieren; oder er kann eine Point-and-Click-Funktion einer optionalen Offset-Videokamera verwenden. Die Kombination dieser beiden Funktionen ermöglicht die automatische Erkennung von Merkmalen und Defekten, die Speicherung ihrer Position und die anschließende Messung dieses Bereichs in 3D. Die 2D- und 3D-Daten können zum Vergleich von Dimension, Form, Rauheit, Volumen und vielem mehr mit vordefinierten Pass/Fail-Parametern verwendet werden.
