تحليل الأسطح المنبثقة من الرصاص

في تطبيق تحليل السطح هذا ، أظهرنا كيف أن NANOVEA ST400 3D Non-Contact Profiler يميز بدقة كل من تفاصيل التضاريس والنانومتر لسطح مثقوب. من الواضح أن كلا من Surface 1 و Surface 2 لهما تأثير كبير على جميع المعلمات المذكورة هنا عند مقارنتها بالمواد الخام. يكشف الفحص البصري البسيط للصور عن الاختلافات بين الأسطح. يتم تأكيد ذلك أيضًا من خلال مراقبة منطقة التغطية والمعلمات المدرجة. بالمقارنة مع السطح 2 ، يُظهر السطح 1 متوسط خشونة أقل (Sa) ، وخدوش أقل عمقًا (Sv) ، ومساحة سطح مخفضة (Sdar) ، ولكن مساحة تغطية أعلى قليلاً.

من خلال قياسات السطح ثلاثية الأبعاد هذه ، يمكن تحديد مناطق الاهتمام بسهولة وإخضاعها لمجموعة شاملة من القياسات ، بما في ذلك الخشونة ، والانتهاء ، والملمس ، والشكل ، والتضاريس ، والتسطيح ، والصفقة ، والاستواء ، والحجم ، والارتفاع ، وغيرها. يمكن اختيار المقطع العرضي ثنائي الأبعاد بسرعة لتحليل مفصل. تسمح هذه المعلومات بإجراء تحقيق شامل للأسطح المثقوبة ، باستخدام مجموعة كاملة من موارد قياس السطح. يمكن دراسة مجالات الاهتمام المحددة بشكل أكبر باستخدام وحدة AFM المتكاملة. توفر مقاييس ملف التعريف NANOVEA 3D سرعات تصل إلى 200 مم / ثانية. يمكن تخصيصها من حيث الحجم والسرعات وإمكانيات المسح ، ويمكن حتى أن تتوافق مع معايير Class 1 Clean Room. تتوفر أيضًا خيارات مثل ناقل الفهرسة والتكامل للاستخدام المضمن أو عبر الإنترنت.