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Large Area Optical Profilometer – NANOVEA ST500

NANOVEA ST500 is a large area optical profilometer for non-contact surface measurement, designed for high-speed scanning of oversized samples.

Built on NANOVEA’s chromatic light technology, the ST500 delivers accurate 2D and 3D surface characterization with continuous scanning over extended travel ranges, making it ideal for applications where area coverage, speed, and measurement reliability are critical.

NANOVEA ST500 large area optical profilometer for high-speed non-contact surface measurement

400毫米 @ 200毫米/秒
连续扫描

400 x 400 mm X-Y轴行程,速度高达200 mm/s。提供超快的测量。
无需拼接!

无与伦比的超高速扫描

384,000点/秒

高质量的 质量控制

完全可编程......是您在质量控制和研究方面唯一需要的具有纳米级精度的系统。

X - Y扫描区

400 x 400 mm

高度范围

nm to cm

桌面尺寸

97 x 72 x 92厘米

扫描速度

200毫米/秒

轮廓测量法 - 色度共焦传感器技术
适合于陡峭的角度
大面积快速测量
使用非常容易
无需图像拼接
无需样品预处理
无需重新聚焦