NANOVEA ST400 is a modular optical profilometer for non-contact surface measurement, designed as a versatile platform for both research and quality control environments.
As NANOVEA’s flagship optical surface profilometer, it is built on chromatic light technology to deliver reliable, high-speed 2D and 3D surface characterization with continuous scanning and flexible configurations, making it the standard choice for laboratories requiring accuracy, scalability, and long-term adaptability.
200 x 150 mm X-Y eksen hareketi ve 40 mm/s'ye varan hızlar. Hızlı ölçümler sunar. Dikişsiz!
Eşsiz ultra hızlı tarama
384.000 puan/s
YÜKSEK KALİTEKALİTE KONTROL
Gelişmiş yazılım, ekranda otomatik olarak taranacak bölgeleri seçmeyi kolaylaştırır. QC seçenekleri, desen tanıma, veritabanı iletişimi, makro programlar ve analiz reçeteleri dahil olmak üzere testin tüm yönlerini otomatikleştirmek için mevcuttur.
SERBESTÇE ÖZELLEŞTIRILEBILIR. EŞSİZ SİZİN
Daha büyük X-Y aşamaları, 360° rotasyonel aşamalar ve birçok özel konfigürasyon mevcuttur.
Bu web sitesi, kullanıcı deneyimini geliştirmek için çerezleri kullanır. Web sitemizi kullanarak, Çerez Politikamıza uygun olarak tüm çerezlere izin vermiş olursunuz. Daha fazla bilgi