ABD/GLOBAL: +1-949-461-9292
AVRUPA: +39-011-3052-794
BİZE ULAŞIN

Modular Optical Profilometer – NANOVEA ST400

NANOVEA ST400 is a modular optical profilometer for non-contact surface measurement, designed as a versatile platform for both research and quality control environments.

As NANOVEA’s flagship optical surface profilometer, it is built on chromatic light technology to deliver reliable, high-speed 2D and 3D surface characterization with continuous scanning and flexible configurations, making it the standard choice for laboratories requiring accuracy, scalability, and long-term adaptability.

NANOVEA ST400 modular optical profilometer for non-contact surface measurement

200 mm @ 40 mm/s
SÜREKLI TARAMA

200 x 150 mm X-Y eksen hareketi ve 40 mm/s'ye varan hızlar. Hızlı ölçümler sunar.
Dikişsiz!

Eşsiz ultra hızlı tarama

384.000 puan/s

YÜKSEK KALİTE KALİTE KONTROL

Gelişmiş yazılım, ekranda otomatik olarak taranacak bölgeleri seçmeyi kolaylaştırır.
QC seçenekleri, desen tanıma, veritabanı iletişimi, makro programlar ve analiz reçeteleri dahil olmak üzere testin tüm yönlerini otomatikleştirmek için mevcuttur.

SERBESTÇE ÖZELLEŞTIRILEBILIR.
EŞSİZ SİZİN

Daha büyük X-Y aşamaları, 360° rotasyonel aşamalar ve birçok özel konfigürasyon mevcuttur.

X - Y Tarama Alanı

200 x 150 mm Motorlu

Yükseklik Aralığı

nm to cm

Masaüstü Boyutları

62 x 62 x 82 cm

Tarama Hızı

40 mm/s

Profilometri - Kromatik Konfokal Sensör Teknolojisi
Dik açılar için en iyisi
Geniş alanlar için hızlı
Kullanımı çok kolay
Görüntü Dikişi Yok
Örnek Hazırlama Yok
Yeniden Odaklanma Yok