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AR Escaneamento ultra-rápido inigualável em
384.000 pontos/s
Modular Optical Profilometer – NANOVEA ST400
NANOVEA ST400 is a modular optical profilometer for non-contact surface measurement, designed as a versatile platform for both research and quality control environments.
As NANOVEA’s flagship optical surface profilometer, it is built on chromatic light technology to deliver reliable, high-speed 2D and 3D surface characterization with continuous scanning and flexible configurations, making it the standard choice for laboratories requiring accuracy, scalability, and long-term adaptability.
200 mm @ 40 mm/s
VARREDURA CONTÍNUA
Curso do eixo X-Y de 200 x 150 mm com velocidades de até 40 mm/s. Oferece medições rápidas.
Sem costuras!
ALTA QUALIDADE CONTROLE DE QUALIDADE
O software avançado facilita a seleção de zonas na tela para serem escaneadas automaticamente.
As opções de CQ estão disponíveis para automatizar todos os aspectos dos testes, incluindo reconhecimento de padrões, comunicação de banco de dados, programas de macro e receitas de análise.
LIVREMENTE PERSONALIZÁVEL.
EXCLUSIVAMENTE SEU
EXCLUSIVAMENTE SEU
Estágios X-Y maiores, estágios rotacionais de 360° e muitas configurações personalizadas disponíveis.
X - Y Área de varredura
200 x 150 mm Motorizado
Faixa de Altura
nm to cm
Dimensões da área de trabalho
62 x 62 x 82 cm
Velocidade de varredura
40 mm/s
Melhor para ângulos íngremes
Rápido para grandes áreas
Muito fácil de usar
Sem costura de imagem
Sem preparação de amostras
Sem reorientação
PERFILÔMETROS 2D & 3D SEM CONTATO
