3D 프로파일 측정을 이용한 탄소 및 제올라이트 촉매의 표면 분석

이 애플리케이션에서 나노베아 ST400 프로파일 미터 는 탄소 및 제올라이트 촉매의 표면을 측정하는 데 사용됩니다. 측정된 면적은 무작위로 선택되었으며, 훨씬 더 큰 표면에 대한 가정을 할 수 있도록 충분히 큰 것으로 가정했습니다. 표면 거칠기와 개발 면적은 사용 가능한 표면적을 특성화하는 데 사용됩니다.

3D 프로파일 측정을 이용한 탄소 및 제올라이트 촉매의 표면 분석